[发明专利]放射线检测装置及放射剂量测量处理方法

权利要求书

1.一种放射线检测装置，根据从外部入射的放射线计算放射剂量，并将计算出的该放射剂量输出到显示部或通信部，其特征在于，包括：

闪烁体，该闪烁体产生与从外部入射的放射线的能量相对应的闪烁光；

受光元件，该受光元件根据所述闪烁光的入射光量输出经过光电转换后得到的输入信号；

随机共振部，该随机共振部使所述受光元件所输出的输入信号产生随机共振现象来进行波形恢复，并输出由此获得的波形恢复信号；以及

运算部，该运算部进行测量处理，即，基于所述随机共振部所生成的波形恢复信号测量放射剂量，

所述随机共振部包括：

噪音加法部，该噪音加法部进行噪音加法处理，即，使所述输入信号与噪音信号相加来生成噪音加法信号；

阈值处理部，该阈值处理部进行阈值处理，即，在所述噪音加法部所生成的噪音加法信号在规定的阈值以上的情况下，输出高电平的脉冲信号；以及

波形恢复部，该波形恢复部进行波形恢复处理，即，输出对从所述阈值处理部输出的脉冲信号进行了平滑处理后得到的波形恢复信号。

2.如权利要求1所述的放射线检测装置，其特征在于，

所述噪音加法部、所述阈值处理部对所述输入信号的时间序列的采样数据的每一个采样数据分别进行噪音加法处理和阈值处理。

3.如权利要求1所述的放射线检测装置，其特征在于，

所述波形恢复部、所述运算部将所述输入信号过去的时间序列的采样数据保存在存储器中，来分别进行波形恢复处理和测量处理。

4.如权利要求2所述的放射线检测装置，其特征在于，

所述波形恢复部、所述运算部将所述输入信号过去的时间序列的采样数据保存在存储器中，来分别进行波形恢复处理和测量处理。

5.如权利要求1至4的任一项所述的放射线检测装置，其特征在于，

所述受光元件为半导体受光元件。

6.一种放射线检测装置，根据从外部入射的放射线计算放射剂量，并将计算出的该放射剂量输出到显示部或通信部，其特征在于，包括：

闪烁体，该闪烁体产生与从外部入射的放射线的能量相对应的闪烁光；

受光元件，该受光元件根据所述闪烁光的入射光量输出经过了光电转换后得到的输入信号；

随机共振部，该随机共振部使所述受光元件所输出的输入信号产生随机共振现象来进行波形恢复，并输出由此获得的波形恢复信号；以及

运算部，该运算部进行测量处理，即，基于所述随机共振部所生成的波形恢复信号测量放射剂量，

所述随机共振部包括：

多个随机共振基本部，该多个随机共振基本部并联配置，其中，该随机共振基本部包括：噪音加法部，该噪音加法部使所述输入信号与噪音信号相加来生成噪音加法信号；以及阈值处理部，该阈值处理部进行阈值处理，即，在所述噪音加法部所生成的噪音加法信号在规定的阈值以上的情况下，输出高电平的脉冲信号；

脉冲加法部，该脉冲加法部将从各随机共振基本部输出的脉冲信号的同步的期间彼此相加，并输出由此得到的脉冲加法信号；以及

波形恢复部，该波形恢复部进行波形恢复处理，即，输出对所述脉冲加法部输出的脉冲加法信号进行了平滑处理后得到的波形恢复信号。

7.如权利要求6所述的放射线检测装置，其特征在于，

所述噪音加法部、所述阈值处理部对所述输入信号的时间序列的采样数据的每一个采样数据分别进行噪音加法处理和阈值处理。

8.如权利要求6所述的放射线检测装置，其特征在于，

所述波形恢复部、所述运算部将所述输入信号过去的时间序列的采样数据保存在存储器中，来分别进行波形恢复处理和测量处理。

9.如权利要求7所述的放射线检测装置，其特征在于，

所述波形恢复部、所述运算部将所述输入信号过去的时间序列的采样数据保存在存储器中，来分别进行波形恢复处理和测量处理。

10.如权利要求6至9的任一项所述的放射线检测装置，其特征在于，

所述受光元件为半导体受光元件。