[发明专利]按压检测装置和按压检测触摸面板

权利要求书

1.一种按压检测装置，其具有：

被加压构件，所述被加压构件具有接触面，所述接触面通过与加压机构接触而被施加压力，

高分子压电构件，所述高分子压电构件被配置在所述被加压构件的与所述接触面相反的一侧，在25℃下利用应力－电荷法测得的压电常数d14为1pC/N以上，

固化性树脂层，所述固化性树脂层包含选自常温固化性树脂、热固性树脂和活性能量射线固化树脂中的至少一种，以与所述高分子压电构件的表面的至少一部分接触的方式配置，和

电极，所述电极以与所述固化性树脂层的表面的一部分或全部接触的方式配置、并且不以与所述高分子压电构件的表面接触的方式配置。

2.如权利要求1所述的按压检测装置，其中，所述固化性树脂层包含羰基、并且包含三维交联结构。

3.如权利要求1或2所述的按压检测装置，其中，所述固化性树脂层的厚度为0.01μm～10μm。

4.如权利要求1或2所述的按压检测装置，其中，具有位置检测构件。

5.如权利要求1或2所述的按压检测装置，其中，在所述被加压构件与所述高分子压电构件之间，配置有粘接层。

6.如权利要求4所述的按压检测装置，其中，在所述位置检测构件与所述高分子压电构件之间，配置有粘接层。

7.如权利要求1或2所述的按压检测装置，其中，所述高分子压电构件的重复单元结构具有选自羰基和氧基中的至少1种官能团。

8.如权利要求1或2所述的按压检测装置，其中，所述高分子压电构件包含重均分子量为5万～100万的具有光学活性的螺旋手性高分子，利用微波透过型分子取向计测定的将基准厚度设定为50μm时的标准化分子取向MORc为2.0～10.0，相对于可见光的内部雾度为50％以下，并且，所述标准化分子取向MORc与所述高分子压电构件的利用DSC法测得的结晶度的积为25～700。

9.如权利要求8所述的按压检测装置，其中，所述内部雾度为5％以下。

10.如权利要求8所述的按压检测装置，其中，所述内部雾度为2.0％以下。

11.如权利要求8所述的按压检测装置，其中，所述内部雾度为1.0％以下。

12.如权利要求8所述的按压检测装置，其中，所述螺旋手性高分子为具有包含下述式(1)所表示的重复单元的主链的聚乳酸类高分子，

13.如权利要求8所述的按压检测装置，其中，所述螺旋手性高分子的光学纯度为95.00％ee以上。

14.如权利要求8所述的按压检测装置，其中，对于所述高分子压电构件而言，所述螺旋手性高分子的含量为80质量％以上。

15.如权利要求1或2所述的按压检测装置，其中，还具有与所述电极电连接的引出电极。

16.一种按压检测触摸面板，其具有权利要求1或2所述的按压检测装置和显示装置。