[发明专利]光学传感器、光学测试设备以及光学特性检测方法

说明书

一种光学传感器，包括：照射系统，包括至少一个光照射器以将光照射到测试的对象上；以及检测系统，检测从照射系统所照射的并且在测试的对象中所传播的光。此外，光照射器将非平行的多个光束照射到测试的对象的相同位置上。

技术领域

本发明涉及一种光学传感器、光学测试设备以及光学特性检测方法，并且更具体地，涉及一种包括用于将光照射到测试的对象的照射系统和检测从照射系统所照射的并且传播穿过测试的对象的光的检测系统的光学传感器、包括该光学传感器的光学测试设备以及使用该光学测试设备的光学特性检测方法。

背景技术

已知下述活体光学测量设备：该活体光学测量设备将光照射到测试的对象(活体)上，并且检测传播穿过测试的对象的光(参见例如专利文献1)。

在活体光学测量设备中，为了实现更高的分辨率，使得被附接至测试的对象的多个探头之间的间距很窄。

发明内容

本发明要解决的问题

然而，在专利文献1中所公开的活体光学测量设备中，多个探头的密度(每单位面积的探头数量)增加，使得探头到测试的对象的附接性能明显地受到妨碍。

解决问题的手段

根据本发明的一个方面，一种光学传感器包括：照射系统，包括至少一个光照射器以将光照射到测试的对象上；以及检测系统，检测从照射系统所照射的并且在测试的对象中所传播的光。此外，光照射器将非平行的多个光束照射到测试的对象的相同位置上。

本发明的效果

根据本发明的一个方面，可以变为能够获得更高的分辨率而不使得到测试的对象的附接执行退化。

附图说明

图1是示出了根据本发明的第一实施例的光学测试设备的示意配置的图；

图2是示出了用于模体(phantom)的水箱的图；

图3是示出了透明窗口的布局的图；

图4是示出了根据示例1的光源模块的示意配置的第一图；

图5是示出了根据示例1的检测模块的示意配置的图；

图6是示出了根据示例1的光源模块的示意配置的第二图；

图7是示出了活体中的传播角度的图；

图8是示出了测量测试的对象中的信息的方法的流程图；

图9是与逆问题(inverse problem)估计算法有关的流程图；

图10是指示光电二极管(PD)中的灵敏度分布的第一图；

图11是指示PD中的灵敏度分布的第二图；

图12是示出了活体中的传播角度的图；

图13A是示出了光吸收体的实际位置的图；

图13B是示出了光吸收体的位置的估计结果的图；

图13C是示出了对比例中光吸收体的位置的估计结果的图；

图14A是示出了移动之后光吸收体的实际位置的图；

图14B是示出了移动之后光吸收体的位置的估计结果的图；

图14C是示出了对比例中光吸收体的位置的估计结果的图；

图15是示出了根据第二实施例的光学传感器中的多个光源模块和多个检测模块的布局的图；