[发明专利]半导体控制装置、开关装置、逆变器以及控制系统

说明书

本发明提供一种半导体控制装置、开关装置、逆变器以及控制系统。所述半导体控制装置具备：开关元件，其具有主元件和与所述主元件并联连接的检测元件；控制电路，其将使所述检测元件导通的负电压偏置于所述检测元件的检测电极上，并对与所述主元件串联连接的其他的开关元件的泄漏电流进行检测。所述控制电路例如以不使所述主元件导通而使所述检测元件导通的方式，使所述负电压偏置于所述检测电极上。

技术领域

本发明涉及一种安装有开关元件的半导体控制装置、开关装置、逆变器以及控制系统，其中，所述开关元件具有主元件和检测元件。

背景技术

作为安装有具有主元件和检测元件的开关元件的半导体控制装置，例如已知有专利文献1所公开的功率模块。该功率模块通过对在检测元件中流通的检测电流进行检测，从而对在主元件中流通的过电流进行检测。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2012-186899号公报

发明内容

发明所要解决的课题

然而，检测元件相对于主元件的面积比非常小(例如，在某IGBT中，检测元件相对于主元件的发射极面积比为1/1000以下)。因此，即使通过检测元件而对与主元件串联连接的其他的开关元件的微小的泄漏电流进行检测，微小的泄漏电流几乎都在主元件中流通，在检测元件中只流通有非常小的检测电流。因而，在以用于对过电流进行检测的比较大的检测电流为检测对象的现有技术中，不易对非常小的检测电流自身进行检测，并且不易对与主元件串联连接的其他的开关元件的微小的泄漏电流进行检测。

因此，目的在于提供一种能够对与主元件串联连接的其他的开关元件的泄漏电流进行检测的半导体控制装置、开关装置、逆变器以及控制系统。

用于解决课题的单元

为了达到上述目的，提供一种半导体控制装置、开关装置、逆变器以及控制系统，具备：开关元件，其具有主元件和与所述主元件并联连接的检测元件；控制电路，其使负电压偏置于所述检测元件的检测电极上，并对与所述主元件串联连接的其他的开关元件的泄漏电流进行检测。

发明效果

根据一个方式，能够对与主元件串联连接的其他的开关元件的泄漏电流进行检测。

附图说明

图1为图示了在高电位侧和低电位侧上安装半导体控制装置的开关装置的一个示例的结构图。

图2为图示了半导体控制装置的一个示例的结构图。

图3图示了半导体控制装置的一个示例的结构图。

图4为图示了控制系统的一个示例的结构图，所述控制系统安装了以并列的方式具有开关装置的逆变器。

图5为图示了系统控制部的控制动作的一个示例的流程图。

图6为图示了控制电路的控制动作的一个示例的流程图。

具体实施方式

以下，根据附图对本发明的实施方式进行说明。

开关电路1的结构

图1为图示了具备被设置于低电位侧的半导体控制装置2和被设置于高电位侧的半导体控制装置3的开关装置的一个示例、即开关电路1的结构例的图。开关电路1既可以为，由集成电路构成的半导体装置，也可以为由分立部件构成的半导体装置。此外，开关电路1也可以为，将这种半导体装置内置在筐体内的电子控制单元(所谓的ECU)。

开关电路1为，具备通过对开关元件10、30进行导通断开驱动，从而对与中间节点部50连接的感应性的负载(例如，电机、电抗器等)进行驱动的单元的半导体电路。