[发明专利]用于在闪速存储器装置之间迁移数据的方法和系统

说明书

这里所述的实施例包括可以增强包括贮存介质的贮存系统的耐受性的系统、方法和/或装置。所述方法包括：将多个闪速存储器装置分割为逻辑组块，每个逻辑组块包括一个或多个闪速存储器块；以及检测关于多个闪速存储器装置的各个闪速存储器装置的触发条件。响应于检测触发条件，所述方法包括：根据预定的选择准则选择各个闪速存储器装置的逻辑组块的一个以用于迁移；以及在第二闪速存储器装置处贮存包括所述选择的逻辑组块的副本的复制的逻辑组块。所述方法包括：将所述选择的逻辑组块的地址重新映射到所述复制的逻辑组块的物理位置；以及降低与所述各个闪速存储器装置相关联的逻辑组块的数量。

技术领域

公开的实施例一般地涉及存储器系统，并且具体地涉及改善包括贮存介质的贮存系统(例如，包括一个或多个闪速存储器装置)的耐受性。

背景技术

半导体存储器装置——包括闪速存储器——通常利用存储器单元来将数据贮存为电的值，诸如电荷或电压。闪速存储器单元例如包括具有被用于贮存数据值的电荷表示的浮置栅极的单个晶体管。已经以各种方式促进了贮存密度的提高，包括通过制造的发展使能的存储器单元在芯片上的密度的提高，以及从单级闪速存储器单元到多级闪速存储器单元的转变，使得可以由每个闪速存储器单元贮存两个或更多位。

在一些情况中，当检测到用于闪速存储器装置的误差条件(例如，从闪速存储器装置读取不可恢复的码字，恢复码字所需的计算性资源超过预定的阈值，或者用于闪速存储器装置的编程-擦除(PE)周期的计数超过阈值值)时，整个闪速存储器装置被认为已经故障。相反，贮存在闪速存储器装置上的所有数据必须被复制并且贮存在不同的闪速存储器装置上。该整个装置的复制丢弃与被认为是故障的装置的仍工作的部分相关联的任何剩余寿命或值，消耗资源，并且将过度的负担置于剩余的闪速存储器装置上。

发明内容

在一些实施例中，贮存控制器被配置为将多个闪速存储器装置分割为多个逻辑组块。在检测到关于所述多个闪速存储器装置的各个闪速存储器装置的预定的触发条件之后，贮存控制器被配置为启动迁移过程，从而在各个闪速存储器装置上的至少一个逻辑组块被迁移到不同于各个闪速存储器装置的第二闪速存储器装置。如此，由于检测到关于闪速存储器装置的触发条件而将逻辑组块迁移出闪速存储器装置，从而缓慢地逐渐淘汰闪速存储器装置而不是整个闪速存储器装置立即故障并且从而被复制。

附图说明

为了可以更加详细地理解本公开，可以通过参考各种实施例的特性来进行的更加特定的描述，一些实施例在附图中说明。但是，附图仅示出了本公开的更加相关的特性并且从而不被认为是限制性的，因为说明书可能认可其他有效的特性。

图1是示出根据一些实施例的数据贮存系统的实现方式框图。

图2A是示出根据一些实施例的管理模块的实现方式框图。

图2B是示出根据一些实施例的在图2A中包括的特征向量表的示意图。

图2C是示出根据一些实施例的在图2B中包括的特征向量的的示意图。

图3A-3C是根据一些实施例的被分割为多个逻辑组块的贮存介质的框图。

图4A是根据一些实施例的被分割为多个逻辑组块的贮存介质的框图。

图4B是根据一些实施例的对应于在图4A中的多个逻辑组块的间接表的示意图。

图4C是根据一些实施例的被分割为多个逻辑组块的贮存介质的框图。

图4D是根据一些实施例的对应于在图4C中的多个逻辑组块的间接表的示意图。

图5-7示出了根据一些实施例的触发迁移过程的方法的流程图表示。

图8A-8C示出了根据一些实施例的管理贮存系统的方法的流程图表示。