[发明专利]减小旋转设备的误差的方法和设备有效
申请号: | 201480061652.4 | 申请日: | 2014-09-24 |
公开(公告)号: | CN105723182B | 公开(公告)日: | 2019-03-19 |
发明(设计)人: | R.塞奇米勒;D.塞茨;T.赫尔德 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 |
主分类号: | G01B21/04 | 分类号: | G01B21/04;B23Q17/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 侯宇;孟婧 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 减小 确定 工件 坐标 加工 采用 旋转 设备 误差 | ||
1.一种用于在确定工件(13)的坐标时减小旋转设备(11、12)的误差的方法,其中,所述旋转设备(11、12)能够在确定坐标期间使工件(13)围绕旋转设备(11、12)的旋转轴线进行旋转运动,并且其中,所述方法具有以下步骤:
a)将第一工件(13)布置在旋转设备(11、12)上,
b)将用于测量第一工件(13)的表面的坐标的坐标测量装置(209)定位在关于旋转轴线周向的第一周向位置上,
c)通过旋转设备(11、12)使第一工件(13)围绕旋转轴线旋转,而通过定位于第一周向位置上的坐标测量装置(209)测量第一工件(13)的表面的第一走向,所述第一走向由于第一工件(13)的旋转而围绕旋转轴线延伸,由此产生第一走向的相应的第一测量信号,
d)将坐标测量装置(209)定位在关于旋转轴线周向的第二周向位置上,所述第二周向位置与第一周向位置不同,
e)通过旋转设备(11、12)使第一工件(13)围绕旋转轴线旋转,而通过定位于第二周向位置上的坐标测量装置(209)测量第一工件(13)的表面的第二走向,所述第二走向由于第一工件(13)的旋转而围绕旋转轴线延伸,由此产生第二走向的相应的第二测量信号,
f)第一测量信号和第二测量信号具有关于第一工件(13)围绕旋转轴线延伸的表面的冗余表面信息和关于旋转设备(11、12)的误差的误差信息,所述误差由于旋转轴线的实际位置和实际定向与旋转轴线的相应的理想位置和理想定向之间的偏差产生,由所述第一测量信号和第二测量信号将冗余表面信息和误差信息彼此分隔开,
g)在坐标测量装置(209)关于旋转轴线的轴向处于与在步骤c)和e)中相同的轴向位置期间,在考虑与冗余表面信息分隔开的误差信息的情况下,通过坐标测量装置(209)测量第二工件的表面的坐标。
2.按权利要求1所述的方法,其中,第一工件(13)相对于旋转设备(11、12)的位置和定向在步骤d)中保持不变,因此第一工件(13)在步骤e)中相对于旋转设备(11、12)具有与步骤c)中相同的位置和定向。
3.按权利要求1所述的方法,其中,
-至少再重复进行一次步骤d)和e),也就是将坐标测量装置(209)分别定位在关于旋转轴线周向的其它周向位置上,所述其它周向位置与第一周向位置和第二周向位置以及另外的周向位置不同,坐标测量装置(209)曾经定位在所述另外的周向位置上并且坐标测量装置(209)已经在其上测量了第一工件(13)的表面的对应走向,并且通过旋转设备(11、12)使第一工件(13)围绕旋转轴线旋转,而通过定位于其它周向位置上的坐标测量装置(209)测量第一工件(13)的表面的其它走向,所述其它走向由于第一工件(13)的旋转而围绕旋转轴线延伸,由此产生其它走向的相应的其它测量信号,并且
-由所述第一测量信号、所述第二测量信号和所述其它测量信号将冗余表面信息和误差信息彼此分隔开。
4.按权利要求3所述的方法,其中,第一工件(13)相对于旋转设备(11、12)的位置和定向在步骤d)中保持不变,因此第一工件(13)在步骤e)中相对于旋转设备(11、12)具有与步骤c)中相同的位置和定向。
5.按权利要求1、3或4中的任一项所述的方法,其中,坐标测量装置(209)关于旋转轴线的周向所定位的第一周向位置和第二周向位置关于旋转轴线的轴向处于相同的轴向位置上。
6.按权利要求1、3或4中的任一项所述的方法,其中,由与误差信息分隔开的冗余表面信息确定第一工件(13)的围绕旋转轴线延伸的表面的坐标。
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