[发明专利]通过回波分析对部件进行无损超声检测的方法

权利要求书

1.一种通过分析由部件(2)响应于借助超声波换能器(100)进行的超声波发射所返回的回波来对所述部件(2)进行无损超声检测的方法(6)，所述方法包括确定称为时间校正增益TCG或距离幅度校正DAC的可变放大曲线的步骤，和根据所述可变放大曲线和所述回波的接收时刻来校正由所述部件(2)返回的回波的振幅的步骤，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

-获取表示由所述超声波换能器(100)发射的超声波的频谱的波函数，

-获取表示以形成所述部件的材料制成的参考样本R^m的频率响应的传递函数F^m，其中所述参考样本具有各自的不同厚度e_m，

-计算所述波函数与通过所述参考样本R^m各自的传递函数F^m对所述波函数所进行的滤波计算的结果之间的参考衰减值，

所述可变放大曲线是根据所述参考衰减值来确定的。

2.根据权利要求1所述的方法(6)，其中，所述波函数是从数据库中获取的，所述数据库中预先存储有所述波函数。

3.根据权利要求1或2所述的方法(6)，其中，在不存在所述部件(2)或者所述参考样本的情况下，通过测量由所述超声波换能器(100)发射到耦合介质(3)中的超声波来估算所述波函数。

4.根据权利要求1或2所述的方法(6)，其中，所述传递函数F^m是从其中预先存储有所述传递函数的数据库中获取的，和/或基于从其中预先存储有参考传递函数的数据库中所获取的至少一个所述参考传递函数而被计算的。

5.根据权利要求1或2所述的方法(6)，其中，获取所述传递函数F^m的步骤包括如下的测量步骤：

-测量已经穿过具有厚度d_R的实际参考样本R_R的超声波的频谱S_R，其中所述实际参考样本是以与所述部件(2)的相同类型的完好材料制成的，

-测量没有穿过所述实际参考样本R_R的、具有相同特性的超声波的频谱S，

其中，通过针对离散频率值f计算以下表达式，在频域中确定具有厚度e_m的参考样本R^m的传递函数F^m：

其中，a和A是正系数。

6.根据权利要求1或2所述的方法(6)，其中，获取所述传递函数F^m的步骤包括如下的测量步骤：

-测量已经穿过具有厚度d_R的实际参考样本R_R的超声波的频谱S_R，其中所述实际参考样本是以与所述部件(2)的相同类型的完好材料制成的，

-测量没有穿过所述实际参考样本R_R的、具有相同特性的超声波的频谱S，

其中，通过针对离散频率值f计算以下表达式，在频域中确定具有厚度e_m的参考样本R^m的传递函数F^m：

其中，α_R(f)是根据以下表达式而确定的参考传递函数：

其中，a和A是正系数。

7.根据权利要求1或2所述的方法(6)，包括估算超声波在所述部件(2)中的传播速度的步骤，以及其中：

-根据所述可变放大曲线、所述回波的接收时刻和所述超声波在所述部件中的传播速度来校正由所述部件(2)返回的回波的振幅，或者

-根据所述参考衰减值和所述超声波在所述部件中的传播速度来确定所述可变放大曲线。