[发明专利]测试插头组

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于插上到串联接线端子组上的测试插头组，其具有多个相互连接的测试插头和两个布置在多个测试插头两侧上的固定件，固定件通过把手件相互连接，其中，固定件分别具有带有插入区段的壳体，该插入区段可被插入容纳区段中，该容纳区段构造在串联接线端子组的固定接线端子的接线端子壳体中。

背景技术

几十年来，电气串联接线端子已经已知，并且数以百万次地使用在电气装置和设备的接线中。接线端子通常被卡在承载轨道上，承载轨道自身常常大量地布置在开关箱中。在开关、测量和调节技术中，现有技术是带有断开可能性的直通式接线端子(Durchgangsklemme)。在这种类型的直通式接线端子中通过在电流梁(Strombalken)中构造断开部位实现的断开可能性在此实现，将带有不同功能的不同插头插入串联接线端子的端子壳体中，之后其在断开部位处接触电流梁。在此，除了简单的断开插头或直通式连接部(Durchgangsverbinder)，尤其地也可将测试-或检验插头用作插头，其可具有特殊的结构元件并且实现对联接到串联接线端子处的电流回路的规定的功能的测试。

通常构造成盘形的电气串联接线端子常常与其它多个电气串联接线端子插接成串联接线端子组并且被卡到承载轨道上或者装配在例如开关箱的壁凹口(Wandausschnitt)中。相应地，单个测试插头(其在其宽度上通常相应于串联接线端子的宽度)也被连接成测试插头组并且共同地被插上到对应的串联接线端子组上。在此，存在这样的要求，即可自由地选择相互连接的串联接线端子数量以及相互组合成测试插头组的测试插头的数量。然而，同时应尽可能简单地共同操纵组合成测试插头组的测试插头，也就是说，能将其共同地插上到串联接线端子组上。

文件DE102006052894A1公开了一种串联接线端子，测试插头和由多个并排布置的串联接线端子和相应数量的测试插头组成的测试接线端子组。通过使用两个固定接线端子和两个分别布置在串联接线端子组或测试插头组的两侧上的固定件，可自由选择能组合成串联接线端子组或测试插头组的串联接线端子数量以及测试插头数量。两个固定件经由把手件相互连接，从而可将测试插头组与两个固定件一起简单地并且舒适地借助于把手件插入或插上到串联接线端子组和两个固定接线端子中。在此，把手件布置在固定件的具有比测试插头更大的空腔的上端部处，从而把手件跨接布置在两个固定件之间的测试插头且由此可舒适地用手握住。

为了在将测试插头插入测试孔中的情况中保证限定的接触状态，在由文件DE102006052894A1中已知的电气串联接线端子中将电流梁构造成使得其形成在测试插头的插上方向上彼此相继布置的两个接触区域。由此，在已知的串联接线端子中，由汇流排的一端部区域形成的断开部位构造成二级的。通过构造在接触插头的插入方向上布置在第一接触区域之前的限定的第二接触区域来保证在插入接触插头时首先引起在接触插头与两个电流梁之间的可靠的电连接，继之在进一步插入接触插头时断开第一接触区域，由此两个电流梁随后彼此电分离。

对于以上说明的已知的串联接线端子或测试接线端子组来说共同的是，两个电流梁彼此接触，使得在当没有将插头插入串联接线端子中时，导体联接元件导电地相互连接。相反地，如果插头(完全)被插入串联接线端子中，则断开接触区域，使得导体联接元件彼此电分离。

测试插头组的单个测试插头常常具有不一样长的接触插头。那么，在插上测试插头组时，单个测试插头的较长的接触插头首先伸入在串联接线端子的接线端子壳体中的对应的孔中并且在这里接触两个电流梁的在测试插头的插上方向上第一前面的接触区域。如果进一步将测试插头组插上到串联接线端子组上，则较长的接触插头伸入第二接触区域中，由此打开该接触区域，从而断开在两个电流梁之间且由此也在两个与电流梁相连接的导体联接元件之间的电导连接。如果接触插头是导电的，则由此经由测试插头改变电流引导。如果将测试插头组进一步插上到串联接线端子组上，则在较短的接触插头也断开第二接触区域且由此也断开该串联接线端子的电流引导并且必要时经由测试插头改变电流引导之前，较短的接触插头首先相应地接触在串联接线端子中的前面的接触区域来作为下一步。