[发明专利]一种阵列天线布阵方法、装置及阵列天线

权利要求书

1.一种阵列天线布阵方法，其特征在于，包括：

在坐标平面上生成基准阵列，所述基准阵列的每一列为一个阵列，所述阵列之间等间距排列，每个所述阵列包括多个第一天线单元，每个所述阵列中的第一天线单元等间距排列；

在所述坐标平面中随机生成扰动阵列，所述扰动阵列中包括的第二天线单元个数与所述基准阵列中包括的所述第一天线单元个数相等，所述第二天线单元的横坐标和纵坐标都大于等于零；

将所述基准阵列中的第一天线单元与所述扰动阵列中的第二天线单元进行叠加，在所述坐标平面中得到最终阵列天线。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述基准阵列中的第一天线单元与所述扰动阵列中的第二天线单元进行叠加，在所述坐标平面中得到最终阵列天线，具体包括：

根据所述第一天线单元在所述坐标平面上的位置，为所述第一天线单元分配单元标识；

根据所述第二天线单元在所述坐标平面上的位置，采用与所述第一天线单元相同的标识分配规则为所述第二天线单元分配所述单元标识；

将单元标识相同的所述第一天线单元和所述第二天线单元进行叠加，在所述坐标平面中得到所述最终阵列天线。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将单元标识相同的所述第一天线单元和所述第二天线单元进行叠加，在所述坐标平面中得到所述最终阵列天线，具体包括：

将每个所述第一天线单元与具有相同所述单元标识的所述第二天线单元进行坐标相加，得到的多个最终天线单元构成所述最终阵列天线。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一天线单元在所述坐标平面上的位置，为所述第一天线单元分配单元标识，具体包括：

按照从第一行至最后一行，每行从左至右/从右至左的顺序为所述第一天线单元分配所述单元标识；或者，

按照从最后一行至第一行，每行从左至右/从右至左的顺序为所述第一天线单元分配所述单元标识；或者，

按照从第一列至最后一列，每列从上至下/从下至上的顺序为所述第一天线单元分配所述单元标识；或者，

按照从最后一列至第一列，每列从上至下/从下至上的顺序为所述第一天线单元分配所述单元标识。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二天线单元在所述坐标平面上的位置，采用与所述第一天线单元相同的标识分配规则为所述第二天线单元分配所述单元标识，具体包括：

在所述坐标平面的横向或者纵向上对所述坐标平面进行稀布空间划分得到多个子空间，每个所述子空间中包括多个所述第二天线单元；

按照所述第二天线单元在所属子空间中的位置，采用与所述第一天线单元相同的标识分配规则为所述第二天线单元分配所述单元标识。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述在所述坐标平面的横向或者纵向上对所述坐标平面进行稀布空间划分，得到多个子空间，具体包括：

若在所述基准阵列中按照从第一行至最后一行，每行从左至右/从右至左的顺序为所述第一天线单元分配所述单元标识，或者若所述按照从最后一行至第一行，每行从左至右/从右至左的顺序为所述第一天线单元分配所述单元标识，则在所述坐标平面的纵向上对所述坐标平面进行所述稀布空间划分；

所述子空间的个数与所述基准阵列的行数相同，每个所述子空间中包括的所述第二天线单元个数与所述基准阵列中的对应行包括的所述第一天线单元个数相同；或者，

若在所述基准阵列中按照从第一列至最后一列，每列从上至下/从下至上的顺序为所述第一天线单元分配所述单元标识，或者若所述按照从最后一列至第一列，每列从上至下/从下至上的顺序为所述第一天线单元分配所述单元标识，则在所述坐标平面的横向上对所述坐标平面进行稀布空间划分；

所述子空间的个数与所述基准阵列的所述阵列的个数相同，所述子空间中包括的所述第二天线单元个数与所述基准阵列中的对应阵列中的所述第一天线单元个数相同。