[发明专利]光功率监控装置、光纤激光器以及光功率监控方法有效
申请号: | 201480076116.1 | 申请日: | 2014-11-12 |
公开(公告)号: | CN106030362B | 公开(公告)日: | 2017-10-31 |
发明(设计)人: | 柏木正浩 | 申请(专利权)人: | 株式会社藤仓 |
主分类号: | G02B6/42 | 分类号: | G02B6/42;H01S3/067 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 李洋,青炜 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 功率 监控 装置 光纤 激光器 以及 方法 | ||
1.一种光功率监控装置,其利用光检测部测定从光纤的侧面漏出的光的功率,其特征在于,具备:
第1光纤;
第2光纤,其通过连接部与所述第1光纤连接,并位于在所述第1光纤传播的前向光的输出侧;
低折射率树脂层,其覆盖所述连接部以及所述第2光纤的在所述连接部的附近区域,并且所述低折射率树脂层的折射率小于所述第2光纤的包层的折射率;
高折射率树脂层,其覆盖所述第2光纤的至少未由所述低折射率树脂层覆盖的区域,并且所述高折射率树脂层的折射率为所述第2光纤的包层的折射率以上;以及
所述光检测部,该光检测部的光入射部配置在所述低折射率树脂层的沿所述第1光纤以及所述第2光纤的轴向处于前向光的输出侧的端部的位置、或者朝前向光的输出侧远离所述端部的位置,并且该光检测部对从所述第2光纤的包层漏出且通过所述高折射率树脂层进而从所述光入射部入射的光进行检测。
2.一种光功率监控装置,其利用光检测部测定从光纤的侧面漏出的光的功率,其特征在于,具备:
第1光纤;
第2光纤,其通过连接部与所述第1光纤连接,并位于在所述第1光纤传播的前向光的输出侧;
低折射率树脂层,其覆盖所述连接部以及所述第1光纤的在所述连接部的附近区域,并且所述低折射率树脂层的折射率小于所述第1光纤的包层的折射率;
高折射率树脂层,其覆盖所述第1光纤的至少未由所述低折射率树脂层覆盖的区域,并且所述高折射率树脂层的折射率为所述第1光纤的包层的折射率以上;以及
所述光检测部,该光检测部的光入射部配置在所述低折射率树脂层的沿所述第1光纤以及所述第2光纤的轴向处于前向光的输入侧的端部的位置、或者朝前向光的输入侧远离所述端部的位置,并且该光检测部对从所述第1光纤的包层漏出且通过所述高折射率树脂层进而从所述光入射部入射的光进行检测。
3.一种光功率监控装置,其利用光检测部测定从光纤的侧面漏出的光的功率,其特征在于,具备:
第1光纤;
第2光纤,其通过连接部与所述第1光纤连接,并位于在所述第1光纤传播的前向光的输出侧;
低折射率树脂层,其覆盖所述连接部、以及所述第1光纤的以及所述第2光纤的在所述连接部的附近区域,并且所述低折射率树脂层的折射率小于所述第1光纤以及所述第2光纤的包层的折射率;
高折射率树脂层,其覆盖所述第1光纤以及所述第2光纤的至少未由所述低折射率树脂层覆盖的区域,并且所述高折射率树脂层的折射率为所述第1光纤以及所述第2光纤的包层的折射率以上;
第1光检测部,该第1光检测部的光入射部配置在所述低折射率树脂层的沿所述第1光纤以及所述第2光纤的轴向处于前向光的输出侧的端部的位置、或者朝前向光的输出侧远离前向光的输出侧的所述端部的位置,并且该第1光检测部对从所述第2光纤的包层漏出且通过所述高折射率树脂层进而从所述光入射部入射的光进行检测;以及
第2光检测部,该第2光检测部的光入射部配置在所述低折射率树脂层的沿所述第1光纤以及所述第2光纤的轴向处于前向光的输入侧的端部的位置、或者朝前向光的输入侧远离前向光的输入侧的所述端部的位置,并且该第2光检测部对从所述第1光纤的包层漏出且通过所述高折射率树脂层进而从所述光入射部入射的光进行检测。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的光功率监控装置,其特征在于,
所述光功率监控装置具备加强部件,
所述高折射率树脂层覆盖所述低折射率树脂层,且设置于所述加强部件,
所述加强部件的隔着所述高折射率树脂层与所述低折射率树脂层对置的面为光吸收面,不隔着所述高折射率树脂层与所述低折射率树脂层对置的面为光反射面。
5.一种光纤激光器,其具备作为放大介质发挥功能的前段光纤、以及对从所述前段光纤输出的光进行传送的作为传送介质发挥功能的后段光纤,其特征在于,
在所述后段光纤插入权利要求1至4中任一项所述的光功率监控装置。
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