[发明专利]离子写入校准的系统和方法有效
申请号: | 201480078341.9 | 申请日: | 2014-07-31 |
公开(公告)号: | CN106457846B | 公开(公告)日: | 2018-06-12 |
发明(设计)人: | O·吉拉;N·J·莱昂尼;H·比雷基 | 申请(专利权)人: | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
主分类号: | B41J2/415 | 分类号: | B41J2/415;G09F9/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 吕传奇;张涛 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 写入单元 校准模块 离子 离子引导 强度校准 图像光学 无源电子 写入系统 选择电极 喷嘴 电子纸 校准 传感器 写入 图案 | ||
【权利要求书】:
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