[发明专利]使用全内反射的屏幕接触检测

说明书

示例涉及使用全内反射来检测屏幕接触。一个示例涉及检测屏幕上的接触，屏幕包括光的全内反射；和经由至少一个处理器基于全内反射的特性确定屏幕上接触的位置，所述干扰由检测的接触所引起。

背景

全内反射(TIR)是当传播着的波(例如，光波)以大于相对于介质的表面的法向的特定临界角的角度撞击介质(例如，玻璃，丙烯酸等)的边界时发生的现象。所述介质的表面的法线。对于要发生的TIR，如果折射率在所述波正从其撞击所述边界的所述边界的相对侧上较低并且入射角大于临界角，那么所述波就不能够穿过所述边界并且在所述介质内被整体地反射。

附图说明

图1示出可以根据本公开的一个方面实现的示例全内反射(TIR)触摸系统的示意图。

图2A示出了可以由图1和2的TIR触摸系统实现的示例光传感器。

图2B是可以被用于实现图1的TIR触摸系统的示例TIR触摸系统的等角(isometric)图示。

图3是可以由图1和/或2的TIR触摸系统实现的示例接触检测器的框图。

图4是可以根据本公开的一个方面实现的另一示例TIR触摸系统的示意图。

图5A是在可以根据本公开的一个方面实现的TIR显示器的背板上包括示例光传感器阵列的示例TIR显示器的层图。

图5B是可被使用来实现图5A的光传感器阵列的示例光传感器阵列的俯视图。

图6A-6B示出了可在图1，4和/或5A中的TIR触摸系统中实现的示例光遮(lightshelter)。

图7是表示可被执行以实现图3的接触检测器的示例机器可读指令的流程图。

图8是表示实现图3的接触检测器的图7的示例机器可读指令的示例部分的流程图。

图9是能够执行实现图3的接触检测器的图7和/或8的指令的示例处理器平台的框图。

附图不是成比例的。相反，为了澄清多个层和区域，层的厚度可以在附图中放大。在可能的任何地方，在整个附图和所附书面描述中将使用相同的附图标记来指代相同或相似的部分。如在本专利中所使用的，说到任何部分(例如，层，膜，区域或板)以任何方式安置在(例如，安置在，位于，设置在或形成在)另一部分上意味着：所引用的部分或者与另一部分接触，或所引用的部分在另一个另一部分的上方，在它们之间定位有至少一个中间部分。说到任何部分或对象与另一部分或对象接触意味着在所述部分(多个)或对象(多个)之间没有中间部件或空间。

详细说明

本文公开的示例方法，装置和制品涉及使用全内反射(TIR)来检测与显示屏的接触。示例方法包括：检测包括光的TIR的屏幕上的接触，并且基于全内反射的干扰，确定接触在屏幕上的位置，所述干扰由检测到的接触引起。

在本文公开的示例中，方法，装置和制品提供了利用屏幕内的光的TIR的触摸显示器和/或触摸系统。本文公开的示例提供了高效的，成本效益高的方法和/或装置来实现使用光源和光传感器的触摸屏。所述光源和光传感器可以在显示器上被配置成测量和/或监视屏幕内的光的TIR。在许多情况下，用于实现大显示器(例如，超过15英寸的显示器)上的触摸屏的以前的技术的成本都能够比较高，高到让人望而却步。与在不顾虑尺寸是怎样的情况下给显示设备提供触摸技术的先前技术相比，本文公开的示例可以成本效益更好并且效率更高。