[发明专利]通过使用威布尔回归识别测量过程谐波而达成轮胎均匀性改进

权利要求书

1.一种改进轮胎均匀性的方法，其包括：

由一个或多个计算装置获得针对多个轮胎的集合所测量的均匀性参数的量值集合，每一量值与所述轮胎集合中的测试轮胎中的一个相关联；

由所述一个或多个计算装置变换所述量值集合以产生经变换量值集合；

由所述一个或多个计算装置根据所述经变换量值估计可能性分布的一个或多个参数；

由所述一个或多个计算装置至少部分地基于所述可能性分布的所述一个或多个参数，确定指示可归因于测量过程谐波的测量误差的数据；以及

至少部分地基于指示所述测量误差的所述数据，修改轮胎制造。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述可能性分布是威布尔分布。

3.根据权利要求1所述的方法，其中由所述一个或多个计算装置变换所述量值集合以产生经变换量值集合包括：

确定所述量值集合的排序次序；

至少部分地基于所述量值集合的所述排序次序，将分位数指派给每一量值；

根据所述可能性分布，变换每一量值的所述分位数以产生经变换分位数；

变换每一量值以产生每一经变换分位数的经变换量值；

至少部分地基于每一经变换量值的所述经变换分位数，确定经变换排序次序。

4.根据权利要求3所述的方法，其中根据如下的所述可能性分布，变换每一量值的所述分位数：

q_t＝log(log(1/(1-q)))

其中q_t是所述经变换分位数，且q是所述分位数；以及

每一经变换量值从每一量值获得，如下：

n_t＝log m

其中m_t是所述经变换量值，且m是所述量值。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述经变换量值与一般线性分布相关联。

6.根据权利要求5所述的方法，其中由所述一个或多个计算装置估计可能性分布的一个或多个参数包括：

估计所述一般线性分布的最佳拟合线的斜率和截距；以及

至少部分地基于所述斜率和所述截距，确定威布尔分布的所述一个或多个参数。

7.根据权利要求6所述的方法，其中所述威布尔分布的所述一个或多个参数包括所述威布尔分布的形状参数和尺度参数。

8.根据权利要求7所述的方法，其中至少部分地基于所述最佳拟合线的所述斜率，估计所述形状参数，并且至少部分地基于所述最佳拟合线的所述截距，估计所述尺度参数。

9.根据权利要求8所述的方法，其中指示所述测量误差的所述数据包括可归因于所述测量过程谐波的方差。

10.根据权利要求8所述的方法，其中至少部分地基于所述威布尔分布的所述形状参数，估计可归因于所述测量过程谐波的所述方差。

11.根据权利要求1所述的方法，其中至少部分地基于指示所述测量误差的所述数据修改轮胎制造包括至少部分地基于指示所述测量误差的所述数据，校正一个或多个轮胎的均匀性测量值，以确定所述一个或多个轮胎的经校正均匀性测量值。

12.根据权利要求11所述的方法，其中修改轮胎制造包括至少部分地基于所述经校正均匀性测量值，对所述一个或多个轮胎进行排序或分级。

13.根据权利要求11所述的方法，其中修改轮胎制造包括分析所述一个或多个轮胎的所述经校正均匀性测量值以识别一个或多个过程谐波或轮胎谐波。

14.根据权利要求1所述的方法，其中所述均匀性参数包括以下中的一个或多个：低速和高速径向力变化、切向力变化、径向偏心、横向偏心、质量方差、锥度、角度效应和其一个或多个谐波。

15.一种用于改进轮胎均匀性的系统，其包括：

均匀性测量机器，所述均匀性测量机器经配置以获得多个轮胎的集合的均匀性参数的均匀性测量值；

一个或多个计算装置，其与所述均匀性测量机器通信，所述一个或多个计算装置包括存储在一个或多个存储器装置中的计算机可读指令，所述计算机可读指令在由一个或多个处理器执行时使所述一个或多个处理器执行根据前述权利要求所述的方法中的任一个。