[发明专利]电流检测方法、电流检测装置、电流检测装置的信号修正方法、以及电流检测装置的信号修正装置有效
申请号: | 201480082608.1 | 申请日: | 2014-10-10 |
公开(公告)号: | CN107076783B | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 二口尚树;千绵直文;秋元克弥 | 申请(专利权)人: | 日立金属株式会社 |
主分类号: | G01R15/20 | 分类号: | G01R15/20;G01R33/09 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 范胜杰;文志 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电流 检测 方法 装置 信号 修正 以及 | ||
1.一种电流检测方法,其特征在于,
对于具备检测磁通密度,输出与所述磁通密度对应的电压信号的磁检测元件的电流检测装置,
取得通过供给所述磁检测元件能够检测的范围的磁通密度而得到的表示所述磁通密度与所述电流检测装置的输出电压信号之间的关系的测定值数据,
进行运算处理使得所取得的所述测定值数据与包含针对被测磁场B的多个系数群而构成的表示磁检测元件的输出电压信号Vf的式子相互拟合,由此来计算所述多个系数群,
按照计算出的所述多个系数群,将来自所述磁检测元件的输出电压信号修正为相对于所述磁通密度大致为线性,并输出修正后的修正电压信号,
所述式子由下式表示:
计算各系数A1~A5使得所述式子的输出电压信号Vf与所述测定值数据的输出电压信号拟合,
构成所述式子的系数A1是输出补偿系数Voff、系数A2是2·Bb·sin(α-φ)、系数A3是Bb的平方、系数A4是Vsat·cosφ、系数A5是Bb·Vsat·sinα,
在所述系数A2~A5中,Vsat是饱和输出系数、Bb是偏置磁场强度系数、φ是被测磁场方向的角度偏移系数、α是偏置磁场方向的角度偏移系数。
2.根据权利要求1所述的电流检测方法,其特征在于,
按照将所述式子的输出电压信号Vf置换为输出电压信号V1,并将被测磁场B设为所述输出电压信号V1的函数B(V1)时的表示所述修正电压信号即VL的下式和通过所述运算处理得到的所述多个系数群来输出所述修正电压信号VL,
VL=m×B(V1)+n,
在该式子中,使系数m为0以外任意的值,n为任意的值。
3.一种电流检测装置,其特征在于,具备:
磁检测元件,其检测磁通密度,输出与所述磁通密度对应的电压信号;以及
信号修正单元,其按照针对被测磁场B的多个系数群,将来自所述磁检测元件的输出电压信号修正为相对于所述磁通密度大致为线性,并输出修正后的修正电压信号,其中,所述针对被测磁场B的多个系数群是通过进行运算处理使得通过向所述磁检测元件供给磁通密度而得到的表示磁通密度与输出电压信号之间的关系的测定值数据与包含所述针对被测磁场B的多个系数群而构成的表示磁检测元件的输出电压信号Vf的式子相互拟合的方式而得到的系数群,
所述式子由下式表示:
计算各系数A1~A5使得该式子的输出电压信号Vf与所述测定值数据的输出电压信号拟合,
构成所述式子的系数A1是输出补偿系数Voff、系数A2是2·Bb·sin(α-φ)、系数A3是Bb的平方、系数A4是Vsat·cosφ、系数A5是Bb·Vsat·sinα,
在所述系数A2~A5中,Vsat是饱和输出系数、Bb是偏置磁场强度系数、φ是被测磁场方向的角度偏移系数、α是偏置磁场方向的角度偏移系数。
4.根据权利要求3所述的电流检测装置,其特征在于,
所述信号修正单元按照将所述式子的输出电压信号Vf置换为输出电压信号V1,并将被测磁场B设为所述输出电压信号V1的函数B(V1)时的表示所述修正电压信号即VL的下式和通过所述运算处理得到的所述多个系数群来输出所述修正电压信号VL,
VL=m×B(V1)+n,
在该式子中,系数m为0以外任意的值,n为任意的值。
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