[发明专利]原子吸收光度计及原子吸收测定方法

说明书

本发明提供一种一方面可抑制试样的消耗量、另一方面可在短时间内容易地进行使用多种方法的本底修正的原子吸收光度计及原子吸收测定方法。本发明根据1个数据获取周期内所获得的各测定期间(T41～T46)内的测定数据，通过D2灯法、塞曼法及自蚀法这各种方法来进行本底修正。使用第1～第3本底测定期间(T44、T46、T42)内所获得的各测定数据(本底数据)对原子吸收测定期间(T41)内所获得的共通的测定数据(原子吸收数据)进行本底修正。

技术领域

本发明涉及一种用以通过使试样原子化来产生原子蒸气并对该原子蒸气照射测定光、由此测定原子吸收的原子吸收光度计及原子吸收测定方法。

背景技术

原子吸收光度计中配备有用以将试样原子化的原子化部。在原子化部中，通过将试样原子化而产生原子蒸气，从光源对该原子蒸气照射测定光。作为上述光源，例如使用像空心阴极灯(HCL)等那样发出明线光谱的光源。在从这种光源对原子蒸气照射测定光的情况下，在原子蒸气中，特定波长的光会被吸收，因此，通过测定其吸光度，可进行试样的分析。

在使用原子吸收光度计的试样的分析时，例如在试样中混合有大量的盐类等混合物的情况下，这些混合物即便在高温下也不会完全解离，从而存在对来自光源的测定光产生吸收的情况。如此，存在因作为目标的元素的吸收以外的因素而产生吸收的情况，这种吸收称为本底吸收(例如，参考下述专利文献1)。

在产生了本底吸收的情况下，作为目标的元素的原子吸收的吸光度中会加上本底吸收的吸光度，因此难以求出准确的吸光度。因此，为了去除本底吸收的影响，进行使用D2灯法、塞曼法及自蚀法(SR法)等的本底修正。

在D2灯法中，例如使用D2灯(氘灯)对原子化部中产生的原子蒸气中照射本底测定用测定光，由此进行本底修正。即，在使用D2灯法来进行本底修正的情况下，例如区别于发出明线光谱的光源而另外使用发出连续光谱的光源，使用通过从各光源对原子蒸气中照射测定光而获得的光谱来进行运算，由此进行本底修正。

在塞曼法中，例如利用电磁铁等磁场产生部使原子化部产生磁场，由此进行本底修正。即，在使用塞曼法来进行本底修正的情况下，例如在从发出明线光谱的光源对原子蒸气中照射测定光时切换磁场产生部的工作，使用这时所获得的光谱来进行运算，由此进行本底修正。

在自蚀法中，例如以过电流对原子化部中产生的原子蒸气中照射测定光，由此进行本底修正。即，在使用自蚀法来进行本底修正的情况下，例如在从发出明线光谱的光源对原子蒸气中照射测定光时以过电流在一定的短时间内照射测定光，使用这时所获得的光谱来进行运算，由此进行本底修正。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2002-195946号公报

发明内容

发明要解决的问题

上述那样的本底修正的各方法各具有特有的优点和缺点，因此，即便是在进行针对相同试样的分析的情况下，有时也会因各方法的不同而获得不同的测定结果，或者变成为不同的测定条件。

例如，在使用D2灯法来进行本底修正的情况下，在与作为目标的元素极为接近的波长下有其他元素的吸收线时，该吸收线不会被判断为本底，从而有本底修正不准确之虞。就这样的观点而言，塞曼法、自蚀法更能够准确地进行本底修正，但也存在考虑到修正的灵敏度(S/N比)、精度而优选D2灯法的情况。另一方面，塞曼法具有可测定的波长范围宽的优点。此外，在希望减少消耗电力的情况下，优选使用自蚀法来进行本底修正。

如此，通过哪一方法来进行本底修正这一选择上的差异会导致测定结果、测定条件、其他工作形态发生差异，因此，必须选择最佳方法来进行试样的分析。因此，以往是作业人员通过上述那样的各种方法来进行本底修正并对测定结果等进行比较研究，由此选择最佳方法。然而，通过多种方法来反复进行本底修正的作业较为繁杂，存在耗时而且试样的消耗量也较多这一问题。