[其他]空隙配置构造体

说明书

技术领域

本实用新型涉及用于通过向保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波来检测被所述空隙配置构造体散射的电磁波的特性从而测定所述被测定物的有无或者量的空隙配置构造体、以及利用该空隙配置构造体的测定方法。

背景技术

以往，为了分析物质的特性，利用如下的测定方法，即：在空隙配置构造体(具有多个空隙的构造体)保持被测定物，向保持有该被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，解析其透过谱，来检测被测定物的特性。具体而言，例如向附着于金属网过滤器的蛋白质等被测定物照射太赫兹波来解析透过谱的方法。

作为这种利用了电磁波的透过谱的解析方法的现有技术，例如在专利文献1(日本特开2008-185552号公报)中公开了如下的测定方法，即：朝向保持有被测定物的具有空隙区域的空隙配置构造体(具体而言为网状的导体板)，相对于空隙配置构造体的主面而从倾斜的方向照射电磁波，测定透过了空隙配置构造体的电磁波，基于测定值的频率特性所产生的谷值波形的位置由于被测定物的存在而移动的特性，来检测被测定物的特性。

此外，在专利文献2(国际公开第2011/027642号)中公开了如下的方法，即：利用具有相对于与电磁波的偏振方向正交的假想面不会成为镜像对称的形状的空隙的空隙配置构造体，从与空隙配置构造体的主面垂直的方向进行照射，根据被散射后的电磁波的频率特性来测定被测定物的特性。在该方法中有如下优点，即：由于从与空隙配置构造体的主面垂直的方向照射电磁波，因此能够抑制从倾斜方向照射电磁波的情况下的入射角度的偏差所引起的测定误差，能够提升测定灵敏度。

然而，期望提供较之于这些方法而灵敏度进一步提高且重现性也高的测定方法。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2008-185552号公报

专利文献2：国际公开第2011/027642号

实用新型内容

实用新型要解决的课题

本实用新型的目的在于，提供一种具有高的测定灵敏度和重现性的能够测定被测定物的有无或者量的空隙配置构造体。

用于解决课题的手段

本实用新型为一种空隙配置构造体，用于通过向保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波来检测被所述空隙配置构造体散射的电磁波的特性从而测定所述被测定物的有无或者量，其特征在于，所述空隙配置构造体具有相互对置的一对主面、和形成为贯通该一对主面的多个空隙部，所述空隙配置构造体是具有以给定的间隔排列配置的至少两个所述空隙部的同一形状的单位构造体在所述主面的方向上二维且周期性连结多个而成的空隙配置构造体，所述单位构造体包含第1空隙部、和具有与该第1空隙部不同的形状的第2空隙部，并且，俯视观察所述主面时的所述单位构造体的整体形状是相对于与所述空隙配置构造体的主面正交的给定的假想面而不成为镜像对称的形状。

优选所述假想面是与所述电磁波的偏振方向垂直的面。此外，优选所述第1空隙部具有相对于所述假想面不成为镜像对称的形状。

优选，相对于所述单位构造体中所包含的所述空隙部的总数，所述第1空隙部的数量多于50％。

更优选，相对于所述单位构造体中所包含的所述空隙部的总数，所述第1空隙部的数量为75％以上。

此外，本实用新型还涉及一种被测定物的测定方法，具备：在上述的空隙配置构造体保持被测定物的工序；向保持有所述被测定物的所述空隙配置构造体照射电磁波来检测被所述空隙配置构造体散射的该电磁波的特性的工序；和根据所述电磁波的特性来计算所述被测定物的有无或者量的工序。

优选，从与所述空隙配置构造体的主面垂直的方向照射所述电磁波。

实用新型的效果

本实用新型的空隙配置构造体通过在构成空隙配置构造体的单位构造体中包含第1空隙部和具有与该第1空隙部不同的形状的第2空隙部，且俯视观察空隙配置构造体的主面时的单位构造体的整体形状是相对于与空隙配置构造体的主面正交的给定的假想面而不成为镜像对称的形状，从而能够在照射电磁波时减少空隙配置构造体的表面的电流密度小的地方的比率，尤其是能够增大空隙部的内壁的电流密度。因而，能够增大被测定物附着于空隙配置构造体时的散射电磁波的特性变化，能够提升测定灵敏度。