[发明专利]测试装置、测试系统以及测试方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种测试装置、测试系统以及测试方法，且特别是有关于一种系统级的电子产品的测试装置、测试系统以及测试方法。

背景技术

在现有的技术领域中，通过称之为测试图案(test pattern)的测试数据皆是运用在进行单芯片、或者多芯片放入单一封装体(Package)之中的集成电路自动化验证流程中，这种测试方式并无被导入针对系统层级的电子装置(例如电脑、服务器、平板电脑、手机、游戏机、照相机等)来进行测试。

并且，在关于系统层级的电子装置的测试方式中，现有技术领域皆是通过量测电子装置中个别功能性电路基本的电器特性(例如开路、短路、电压值及电流值)，并通过量测结果来判断出个别功能性电路的良好或损坏，而并无法针对多个个别功能性电路间所产生的系统性功能进行测试。

此外，在电子产品的开发流程上，现有的测试技术皆是通过单一功能设定，来针对个别的功能性电路进行各别信号的量测，以做为判定功能性电路所产生的信号是否符合相关规格，并无提供仿真信号进行功能性电路相容性能力的判别，或者针对异常信号进行处理的能力。

在现今的技术中，系统层级的电子装置开发过程中的相容性测试，皆是通过大批数量级的成品，包括不同厂商所提供的真实模块软件、硬件规格的排列组合，加上严苛环境条件下(例如高低温，不同湿度)，由发生问题的机率或者比例，来判定产品的可量产性。并无法保证所有排列组合皆全部搭配验证到，不仅耗时耗人力，且需要很多成品数量，不环保且没效率，更重要的是开发测试环境与未来量产情况未必相同，在成本数量有限的情况下，很难确保品质的一致性。

发明内容

本发明提供一种测试装置、测试系统以及测试方法，用以测试至少一系统层级的电子装置，并获知受测电子装置的产品群组。

本发明的测试装置，用以测试至少一电子装置。测试装置包括测试数据传收器以及处理器。测试数据传收器通过多个连接接口分别耦接至电子装置的多个功能性电路，分别传送对应功能性电路的多个测试数据以针对功能性电路进行测试以产生多个对应信息。处理器耦接测试数据传收器，传送该些测试数据至测试数据传收器，并由测试数据传收器接收对应信息，依据对应信息来决定至少一电子装置及各功能性电路的至少其中之一的至少一产品群组。

在本发明的一实施例中，上述的测试装置还包括存储装置。存储装置耦接处理器，存储装置用以存储对应功能性电路的测试数据、对应信息以及产品群组的至少其中之一。

在本发明的一实施例中，上述的测试装置通过外部装置接收测试数据，并将测试数据存储至存储装置中。

在本发明的一实施例中，上述的测试数据传收器分别传送测试数据至对应的功能性电路，并接收功能性电路依据分别对应的测试数据所分别响应产生的多个测试响应数据。测试数据传收器将测试响应数据传送给处理器并判别分别对应功能性电路的对应信息。

在本发明的一实施例中，上述的处理器依据对应信息来决定分别对应的功能性电路的等级，还依据功能性电路的等级来决定电子装置的产品群组。

在本发明的一实施例中，上述的测试装置内嵌于该电子装置内。

在本发明的一实施例中，上述的处理器通过命令使测试数据传收器仿真(Emulating)为功能性电路其中之一的应用电子装置，并通过仿真的测试数据传收器对功能性电路其中之一进行测试动作。

在本发明的一实施例中，上述的功能性电路包括网络传输电路、显示接口电路、音效接口电路、电源控制电路、存储装置电路、存储器装置电路、无线网络电路、图像获取电路、以及传输接口电路。

本发明的测试系统包括多个电子装置以及测试装置。各电子装置具有多个功能性电路，测试装置包括测试数据传收器以及处理器。测试数据传收器通过多个连接接口分别耦接至电子装置的多个功能性电路，分别传送对应功能性电路的多个测试数据以针对功能性电路进行测试以产生多个对应信息。处理器耦接测试数据传收器，传送该些测试数据至测试数据传收器，并由测试数据传收器接收对应信息，依据对应信息来决定至少一电子装置及各功能性电路的至少其中之一的至少一产品群组。

本发明的测试方法，用以测试至少一电子装置，包括：分别传送对应功能性电路的多个测试数据以针对功能性电路进行测试以产生多个对应信息；接收对应信息，并依据对应信息来决定上述至少一电子装置及各功能性电路的至少其中之一的至少一产品群组。