[发明专利]一种物体尺寸的测量方法

权利要求书

1.一种物体尺寸的测量方法，其特征在于，包括：

在终端显示屏幕上输出测量区域；

接收用户输入的触控指令，其中，所述触控指令用于对所述测量区域进行缩放控制；

响应所述触控指令，对所述测量区域进行缩放；

获取缩放后的测量区域的交点的像素坐标；

根据所述像素坐标确定缩放后的测量区域的测量数据。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在终端显示屏幕上输出测量区域之前，所述方法还包括：

接收用户输入的开启指令，其中，所述开启指令用于触发本端输出测量区域。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述像素坐标确定缩放后的测量区域的测量数据之后，所述方法还包括：

以语音和/或文字方式输出确定的测量数据，其中，所述测量数据包括缩放后的测量区域的长度、宽度和面积中的至少一种。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，若所述测量区域由平行于横轴的第一测量标尺线、平行于横轴的第二测量标尺线、平行于纵轴的第三测量标尺线以及平行于纵轴的第四测量标尺线围成，则所述触控指令包括针对所述第一测量标尺线输入的第一触控指令、针对所述第二测量标尺线输入的第二触控指令、针对所述第三测量标尺线输入的第三触控指令以及针对所述第四测量标尺线输入的第四触控指令中的任一种或多种。

5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述响应所述触控指令，以对所述测量区域进行缩放，包括：

当所述触控指令包括所述第一触控指令时，响应所述第一触控指令，获取所述第一触控指令对应的触控轨迹；

当所述触控轨迹为拖动所述第一测量标尺线相对于所述第二测量标尺线向上移动时，放大所述测量区域；

当所述触控轨迹为拖动所述第一测量标尺线相对于所述第二测量标尺线向下移动时，缩小所述测量区域。

6.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述响应所述触控指令，以对所述测量区域进行缩放，包括：

当所述触控指令包括所述第二触控指令时，响应所述第二触控指令，获取所述第二触控指令对应的触控轨迹；

当所述触控轨迹为拖动所述第二测量标尺线相对于所述第一测量标尺线向上移动时，缩小所述测量区域；

当所述触控轨迹为拖动所述第二测量标尺线相对于所述第一测量标尺线向下移动时，放大所述测量区域。

7.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述响应所述触控指令，以对所述测量区域进行缩放，包括：

当所述触控指令包括所述第三触控指令时，响应所述第三触控指令，获取所述第三触控指令对应的触控轨迹；

当所述触控轨迹为拖动所述第三测量标尺线相对于所述第四测量标尺线向左移动时，放大所述测量区域；

当所述触控轨迹为拖动所述第三测量标尺线相对于所述第四测量标尺线向右移动时，缩小所述测量区域。

8.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述响应所述触控指令，以对所述测量区域进行缩放，包括：

当所述触控指令包括所述第四触控指令时，响应所述第四触控指令，获取所述第四触控指令对应的触控轨迹；

当所述触控轨迹为拖动所述第四测量标尺线相对于所述第三测量标尺线向左移动，放大所述测量区域；

当所述触控轨迹为拖动所述第四测量标尺线相对于所述第三测量标尺线向右移动，缩小所述测量区域。

9.如权利要求3至7任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述像素坐标确定缩放后的测量区域的测量数据，包括：

获取所述显示屏幕上单个像素的长度和宽度；

获取所述缩放后的测量区域中所述第一测量标尺线分别与所述第三测量标尺线和所述第四测量标尺线的交点的像素坐标的横坐标之差；

获取所述缩放后的测量区域中所述第三测量标尺线分别与所述第一测量标尺线和所述第二测量标尺线的交点的像素坐标的纵坐标之差；

将所述像素的长度乘以所述横坐标之差，获得缩放后的测量区域的长度；

将所述像素的宽度乘以所述纵坐标之差，获得缩放后的测量区域的宽度；根据获得的所述缩放后的测量区域的长度和宽度，确定缩放后的测量区域的面积。

10.如权利要求3所述的方法，其特征在于，若缩放后的测量区域为由至少五条测量标尺线围成的多边形测量区域，所述获取缩放后的测量区域的交点的像素坐标，包括：

以横轴为基准，获取所述多边形测量区域在所述显示屏幕的每行像素阵列中所覆盖的像素个数；

将所述多边形测量区域在每行像素阵列中所覆盖的像素个数累加，获取所述多边形测量区域所覆盖的像素总数；

所述根据所述像素坐标确定缩放后的测量区域的测量数据，包括：

获取所述显示屏幕上单个像素的长度和宽度，并确定所述单个像素的面积；

将所述像素总数与所述单个像素的面积相乘，获得所述多边形测量区域的面积。