[发明专利]场效应晶体管、显示元件、图像显示设备和系统有效

专利信息
申请号: 201510004823.6 申请日: 2011-02-15
公开(公告)号: CN104617150B 公开(公告)日: 2020-01-24
发明(设计)人: 植田尚之;中村有希;曾根雄司;安部由希子 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/41
代理公司: 11105 北京市柳沈律师事务所 代理人: 安之斐
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 场效应 晶体管 显示 元件 图像 设备 系统
【权利要求书】:

1.一种场效应晶体管,包括:

栅极;

源极和漏极;

有源层,相邻于所述源极和所述漏极提供,所述有源层包括n型金属氧化物半导体;以及

栅绝缘层,在所述栅极和所述有源层之间提供,

其中,所述金属氧化物半导体包括n型替位掺杂氧化物,其中,所述n型掺杂化合物包括至少一个掺杂物,其中,所有掺杂物的价大于所述金属氧化物半导体中的被替位掺杂的金属离子的价,

其中,所述n型掺杂化合物是红绿柱石化合物,所述红绿柱石化合物包括从包括In3+、Sc3+、Y3+和Ln3+的组中选出的至少一个三价阳离子,其中所述Ln是稀土元素,其中,所述红绿柱石化合物的三价阳离子的一部分由从包括Ge4+、Sn4+、Ti4+、Zr4+、Hf4+、V5+、Nb5+、Ta5+、Sb5+、Mo6+和W6+的组中选出的至少一个阳离子替位。

2.一种场效应晶体管,包括:

栅极;

源极和漏极;

有源层,相邻于所述源极和所述漏极提供,所述有源层包括n型金属氧化物半导体;以及

栅绝缘层,在所述栅极和所述有源层之间提供,

其中,所述金属氧化物半导体包括n型替位掺杂氧化物,其中,所述n型掺杂化合物包括至少一个掺杂物,其中,所有掺杂物的价大于所述金属氧化物半导体中的被替位掺杂的金属离子的价,

其中,所述n型替位掺杂氧化物是由AE2O6代表的三金红石化合物,其中,A是从包括Mg2+、Zn2+和Cd2+的组中选出的至少一个二价阳离子,并且E是从包括Sb5+、Nb5+和Ta5+的组中选出的至少一个五价阳离子。

3.如权利要求2所述的场效应晶体管,

其中,所述三金红石化合物的AE2O6的阳离子E的一部分由从包括Mo6+和W6+的组中选出的至少一个阳离子替位。

4.如权利要求2所述的场效应晶体管,

其中,所述三金红石化合物从ZnSb2O6、MgSb2O6和MgTa2O6中选出。

5.一种场效应晶体管,包括:

栅极;

源极和漏极;

有源层,相邻于所述源极和所述漏极提供,所述有源层包括n型金属氧化物半导体;以及

栅绝缘层,在所述栅极和所述有源层之间提供,

其中,所述金属氧化物半导体包括具有正交晶族的成分的n型替位掺杂氧化物,其中,所述n型掺杂化合物包括从包括三价阳离子、四价阳离子、五价阳离子和六价阳离子的组中选出的至少一个掺杂物;

其中,所述掺杂物的价大于所述金属氧化物半导体的金属离子的价,

其中,所述具有正交晶族的成分的n型替位掺杂氧化物是由A2GO4代表的橄榄石化合物,其中A是从包括Mg2+、Zn2+和Cd2+的组中选出的至少一个二价阳离子,并且G是从包括Si4+、Ge4+和Sn4+的组中选出的至少一个四价阳离子。

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