[发明专利]信息处理装置和信息处理方法

说明书

本发明提供了信息处理装置和信息处理方法。所述信息处理装置包括：发光部，所述发光部被构造成发出光；光学部，所述光学部被构造成引起对来自所述发光部的所述光的光学影响，所述光学部具有像散透镜，所述像散透镜被构造成生成具有多个焦距的像散；检测部，所述检测部被构造成检测从所述发光部中发出的、通过所述光学部而照射到外部且然后被对象反射的所述光；以及测量部，所述测量部被构造成基于在由所述检测部检测到的所述反射光中生成的像散来测量距所述对象的距离。本发明能够处理信号且能够更容易地测量距离。

技术领域

本发明涉及信息处理装置和信息处理方法，且更具体地，涉及能够更容易地测量距离的信息处理装置和信息处理方法。

背景技术

过去，用于摄取深度轮廓的相机系统包括没有光照射的无源方法和利用光照射的有源方法。具有多视角类型等的无源方法在黑暗环境下或对于低对比度的客体而言会使距离测量的精度劣化。有源方法具有光切断法或飞行时间(TOF：time of flight)。

所述光切断法是如下的方法：其基于在照射特定图案的光以摄取图像时距参照物图案的位移量来测量距客体的距离(例如，参见日本专利申请特开昭第62-291509号)。此外，所述TOF是测量以光速被反射回来的光的延迟时间并且基于该延迟时间来测量距客体的距离的方法(例如，参见日本专利申请特开第2012-194185号)。

然而，在所述光切断法的情况下，必须预先在存储器等中输入参照物的图案及其位置。因此，该方法可能增加成本。此外，运算需要花费更多时间，因此可能难以执行极其高速的处理。

此外，在所述TOF的情况下，必须非常高速地执行用来测量反射光的延迟时间的测量处理。于是，特殊技术是必要的，这样成本可能增加。该测量方法的示例包括间接方法。在所述间接方法的情况下，两个栅极被设置给图像传感器的一个像素。首先，一个栅极读出信号，然后另一个栅极读出信号。根据这两个信号的差别，测量出返回的光的延迟时间。因为两个栅极进行读出，所以能够实现高速处理。然而，与一般的互补金属氧化物半导体图像传感器(CIS：complementary metal oxide semiconductor image sensor)相比较而言，两个栅极或者累积部是必要的，这使得难以减小像素尺寸。此外，该方法具有复杂的电路构造，因此成本可能增加。

发明内容

鉴于如上所述的情形，期望提供能够更容易地测量距离的信息处理装置。

根据本技术的实施例，提供了一种信息处理装置，其包括：发光部，所述发光部被构造成发出光；光学部，所述光学部被构造成引起对来自所述发光部的所述光的光学影响，所述光学部具有像散透镜，所述像散透镜被构造成生成具有多个焦距的像散；检测部，所述检测部被构造成检测从所述发光部中发出的、通过所述光学部而照射到外部且然后被对象反射的所述光；以及测量部，所述测量部被构造成基于在由所述检测部检测到的所述反射光中生成的像散来测量距所述对象的距离。

所述测量部可以被构造成基于所述光在所述对象中的照射形状的变化来测量距所述对象的所述距离。

所述测量部可以被构造成根据沿多个方向呈直线照射的所述光在所述对象中的各条线的厚度变化来测量距所述对象的所述距离。

所述光学部还可以包括狭缝、波导和衍射光学元件中的一者，所述狭缝、所述波导和所述衍射光学元件被构造成使来自所述发光部的所述光的所述照射形状形成为十字形，并且所述测量部可以被构造成根据所述十字形在所述对象中的各条线的厚度变化来测量距所述对象的所述距离。

所述光学部还可以包括狭缝、波导和衍射光学元件中的一者，所述狭缝、所述波导和所述衍射光学元件被构造成使来自所述发光部的所述光的所述照射形状形成为放射形，并且所述测量部可以被构造成根据所述放射形在所述对象中的各条线的厚度变化来测量距所述对象的所述距离。