[发明专利]一种基于嵌入式系统力/位移检测装置的曲线评估方法有效
申请号: | 201510007906.0 | 申请日: | 2015-01-08 |
公开(公告)号: | CN104568307B | 公开(公告)日: | 2019-02-01 |
发明(设计)人: | 韩辅君;杨洪勇;张淑宁 | 申请(专利权)人: | 鲁东大学 |
主分类号: | G01L25/00 | 分类号: | G01L25/00;G01B21/02 |
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地址: | 264025 山东省烟*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 嵌入式 系统 位移 检测 装置 曲线 评估 方法 | ||
1.一种基于嵌入式系统力/位移的曲线检测评估装置,其特征在于包括:ARM芯片(1)作为曲线标定过程实现的核心处理单元,ARM芯片(1)通过内部集成的液晶驱动模块(3)与液晶触摸屏(2)相连接,根据液晶屏的触发指令进行相应的设置和操作,采样的曲线在液晶触摸屏(2)上实时显示;ARM芯片(1)通过内部集成的AD模块(4)与调理电路(5)相连接,接收传感器(6)的信号;ARM芯片(1)通过SDIO通信方式与SD卡(7)相连接,用于评估液晶触摸屏(2)的曲线显示界面显示的曲线;
所述ARM芯片(1)采用嵌入式图形用户界面工具emWin进行曲线评估界面的设计并在液晶触摸屏(2)上进行显示,液晶触摸屏(2)显示的评估界面包含:曲线显示界面、曲线信息界面、开始按键、返回按键四个部分,其中曲线信息界面在未开始测试前会显示标准曲线的力和位移的最大值坐标,开始后则实时显示待测曲线的力和位移的最大值坐标以及每个采样点的实时坐标;曲线显示界面会显示标定曲线以及评估标准窗或包络,可根据实际需要移动三种窗的位置,三种窗的位置不同,其坐标就会不一样,该坐标将作为测试曲线判断的依据;三种窗移动完成后,若点开始按键,则启动采样,当采样完一组数据后,该组数据就会以不同于标定曲线的颜色在曲线显示界面显示一条曲线,然后系统就会以标准曲线为基础通过设置的评估窗或包络对本待测曲线进行判断。
2.一种基于嵌入式系统力/位移的曲线检测评估方法,其特征在于包括:
ARM芯片(1)根据液晶触摸屏(2)传来的设置指令,启动片内ADC进行采样;
采样结束后的数据通过DMA通道传送至片内存储空间;
通过定时器定时读取片内存储空间的采样数据,达到设定的采样点数;
对采样结果进行数字低通滤波、加权平均滤波处理,处理完成后的数据送至液晶触摸屏(2)的曲线显示界面进行实时显示;
对处理完后的数据显示的曲线进行评估判断,判断完成后将此曲线送至SD卡进行存储;
采用计算水平线与多边形交点的方法进行待测曲线与评估窗口关系的判断:
把曲线显示界面当成一个以左下角为原点的坐标平面,由于所有曲线以及评估标准窗都在一个平面内显示,所以待测曲线、标准曲线以及评估标准窗和包络在曲线显示界面都可以找到其坐标,又由于评估标准中的窗和包络在在平面内都是一些不同形状的多边形,待测曲线又是一个个坐标点,所以只要找到平面上点与多边形的包含关系,就可确定待测曲线与各类判断窗及包络的位置关系,从待测曲线与各类判断窗及包络的位置关系,即可判断此待测曲线是否合格;对于线程窗,只有当测试曲线从其左侧进入右侧离开这样曲线才算合格;对于通过窗,测试只有根据评估设置界面中设置的进入侧和离开侧进入和离开这样曲线才算合格;对于块窗则曲线只能进入不能离开才合格;而对于包络,测试曲线只能从左侧进入右侧离开并整个曲线不能超出包络的范围才合格;由于测试界面中评估方式任意搭配,所以在曲线评估时只要曲线不满足其中一个评估方式就不算合格,当所有评估方式都满足时曲线判定为合格。
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