[发明专利]AP杂散自动测试系统及方法

权利要求书

1.一种AP杂散自动测试系统，包括自动控制装置、待测试AP设备、功率调整器和分析仪，其特征在于，所述自动控制装置和待测试AP设备连接，用于向待测试AP设备发送第一控制命令，使待测试AP设备产生射频信号；所述待测试AP设备产生的射频信号经所述功率调整器处理后发送给所述分析仪；所述自动控制装置还和所述分析仪连接，用于向所述分析仪发送第二控制命令，使分析仪进行测试，并从所述分析仪读取测试结果；所述自动控制装置包括：

AP参数设置模块，用于生成所述第一控制命令，所述第一控制命令带有调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；

分析仪自动测试模块，用于生成所述第二控制命令，所述第二控制命令带有调整所述分析仪测试所述射频信号时的参数配置的信息。

2.如权利要求1所述的AP杂散自动测试系统，其特征在于，所述AP参数设置模块包括M个运行参数调整单元，每一个所述运行参数调整单元用于调整所述待测试AP设备的对应的一个运行参数的值；其中，M为大于等于1的整数；

所述第一控制命令带有根据所述M个运行参数调整单元生成的用于调整调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的包括一个或多个运行参数的值的信息。

3.如权利要求2所述的AP杂散自动测试系统，其特征在于，所述分析仪自动测试模块包括：

测试频段调整单元，用于调整所述分析仪使其工作在与所述功率调整器对应的测试频段上；

测试结果存储单元，用于实时读取并存储所述分析仪对每一个所述射频信号测试后的测试结果。

4.如权利要求3所述的AP杂散自动测试系统，其特征在于，所述AP参数设置模块还包括：

AP参数预设单元，用于供用户预先设置需要测试的所述待测试AP设备的M个运行参数，其中，每一运行参数包括至少一个值；

主控单元，用于根据所述AP参数预设单元控制所述M个运行参数调整单元工作，从而使所述待测试AP设备依次组合生成对应的N个不同的射频信号，N＝m1*m2*…*mM，其中，m1为第一个运行参数的值的个数，m2为第二个运行参数的值的个数，……mM为第M个运行参数的值的个数。

5.如权利要求4所述的AP杂散自动测试系统，其特征在于，

所述主控单元还与所述测试结果存储单元连接，仅当所述测试结果存储单元实时读取并存储所述分析仪测试所述待测试AP设备当前产生的射频信号的测试结果时，所述主控单元才对应控制M个运行参数调整单元工作，从而使所述待测试AP设备对应生成下一个射频信号。

6.如权利要求1～5中任一项所述的AP杂散自动测试系统，其特征在于，所述运行参数包括但不限于发射功率、工作模式、发射速率和工作信道。

7.如权利要求1所述的AP杂散自动测试系统，其特征在于，所述功率调整器为功率衰减器或可调带通滤波器；优选的，所述分析仪为频谱分析仪、发射机测试分析仪或信号分析仪；优选的，所述AP杂散自动测试装置还包括电磁屏蔽室，所述PC、待测试AP设备、功率调整器和分析仪均置于所述电磁屏蔽室内部。

8.一种AP杂散自动测试方法，其特征在于，包括步骤：

生成第一控制命令，向待测试AP设备发送所述第一控制命令，使待测试AP设备产生射频信号；其中，所述第一控制命令带有调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；

生成第二控制命令，向分析仪发送所述第二控制命令，使分析仪对所述待测试AP设备产生的所述射频信号进行测试，并从所述分析仪读取测试结果；其中，所述第二控制命令带有调整所述分析仪测试所述射频信号时的参数配置的信息。