[发明专利]宽带λ探测器以及宽带λ探测器的制造方法在审

专利信息
申请号: 201510015533.1 申请日: 2015-01-13
公开(公告)号: CN104777208A 公开(公告)日: 2015-07-15
发明(设计)人: M.施赖福格尔 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G01N27/407 分类号: G01N27/407;G01N27/417;G01N27/406
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 张晔;宣力伟
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 宽带 探测器 以及 制造 方法
【权利要求书】:

1. 宽带λ探测器,其具有:

氧气泵单元,所述氧气泵单元包括外部的泵电极(10)和内部的泵电极(12),借助于所述氧气泵单元能够将氧气从所述宽带λ探测器的测量空腔(14)转移到宽带λ探测器的外部环境中;

能斯特浓缩单元,所述能斯特浓缩单元包括能斯特电极(20)和参考电极(22);以及

至少一个容性传感器装置(32),所述容性传感器装置的电容借助于存在于相应的容性传感器装置(32)上的、至少一种物质的浓度变化是可变的;

其特征在于,所述至少一个容性传感器装置(32)如此布置在宽带λ探测器中,从而使得所述至少一个容性传感器装置(32)直接邻接所述测量空腔(14)和/或至少部分伸入到所述测量空腔(14)中。

2. 根据权利要求1所述的宽带λ探测器,其中所述至少一个容性传感器装置(32)包括各一个第一传感器电极(34)、各一个第二传感器电极(36)、各至少一个存在于所述第一传感器电极(34)与所述第二传感器电极(36)之间的电介质体(38)。

3. 根据权利要求2所述的宽带λ探测器,其中所述相应的容性传感器装置(32)的至少一个电介质体(38)至少包括氧化硅、氧化铝、氧化铪、氧化钽、氧化锆、氮化硅、氮化硼、碳化硅、硅化钨和/或硅化钽。

4. 根据权利要求2或3所述的宽带λ探测器,其中所述相应的容性传感器装置(32)的至少一个电介质体(38)包括至少一种材料,所述材料至少在等于宽带λ探测器的运行温度的温度下具有取决于电压的电容率和阻抗。

5. 根据权利要求4所述的宽带λ探测器,其中所述相应的容性传感器装置(32)的至少一个电介质体(38)至少包括钽酸钡、钽酸铅锆和/或钽酸钡锶作为所述至少一种材料。

6. 根据权利要求2至5中任一项所述的宽带λ探测器,其中所述相应的容性传感器装置(32)的朝向所述测量空腔(14)的第一传感器电极(34)包括至少一种催化有效的材料。

7. 根据权利要求6所述的宽带λ探测器,其中所述相应的容性传感器装置(32)的朝向所述测量空腔(14)的第一传感器电极(34)包括金、铂、铝、钯、铼、钌、铱、钛、氮化钛、氮化钽、和/或铑作为所述至少一种催化有效的材料。

8. 根据权利要求2至7中任一项所述的宽带λ探测器,其中所述相应的容性传感器装置(32)的由所述测量空腔(14)指离的第二传感器电极(36)包括至少一种半导体材料。

9. 根据权利要求8所述的宽带λ探测器,其中所述相应的容性传感器装置(32)的由所述测量空腔(14)指离的第二传感器电极(36)包括硅、锗、砷化镓、磷化铟、碳化硅和/或氮化镓作为所述至少一种半导体材料。

10. 根据上述权利要求中任一项所述的宽带λ探测器,其中所述相应的容性传感器装置(32)的电容借助于在所述测量空腔(14)中作为至少一种物质的至少一种含氢气体和/或至少一种氧化氮的在容性传感器装置(32)上的浓度的变化是可变的。

11. 根据上述权利要求中任一项所述的宽带λ探测器,其中,所述至少一种容性传感器装置(32)通过印制导线电气连接到宽带λ探测器的分析处理装置上,设计所述分析处理装置,以便在相应的容性传感器装置(32)上确定漏电流、电容(C)、取决于电压的阻抗和/或取决于频率的阻抗。

12. 宽带λ探测器的制造方法,所述方法包括以下步骤:

如此构造(S1)所述宽带λ探测器的氧气泵单元,所述氧气泵单元包括外部的泵电极(10)和内部的泵电极(12),从而使得在所述宽带λ探测器的运行中借助于所述氧气泵单元将氧气从宽带λ探测器的测量空腔(14)转移到宽带λ探测器的外部环境中;构造(S2)宽带λ探测器的能斯特浓缩单元,所述能斯特浓缩单元包括能斯特电极(20)和参考电极(22);以及构造(S3)至少一个容性传感器装置(32),所述容性传感器装置的电容在宽带λ探测器的运行中借助于存在于相应的容性传感器装置(32)上的至少一种物质的浓度变化而改变;

其特征在于,所述至少一个容性传感器装置(32)如此布置在所述宽带λ探测器中,从而使得所述至少一个容性传感器装置(32)直接邻接所述测量空腔(14)和/或至少部分地伸入到所述测量空腔(14)中。

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