[发明专利]一种检测金属材料损伤的微电阻测量夹具装置及使用方法

权利要求书

1.一种检测金属材料损伤的微电阻测量夹具装置，其特征在于，包括：

试件固定片，两边对称的有两个用于螺杆穿过的固定通孔，其中心有一个用于探针通过的通孔，两块试件固定片通过与试件两端接触对试件施加压力以固定试件；

探针，两根探针分别与试件两端接触以测量试件的电阻，探针笔头上部圆形凸台直径大于探针笔身的直径；

探针固定片，两边对称的有两个用于螺杆穿过的固定通孔，中心有一个用于固定探针的通孔，用以卡住探针笔头上部凸台，使探针与试件接触；

螺杆，通过螺母将试件固定片和探针固定片整体固定。

2.如权利要求1所述的微电阻测量夹具装置，其特征在于，还包括：绝缘垫片，该绝缘垫片与试件固定片固定在一起，中心有便于探针通过的小孔，用于试件与测量夹具装置之间的绝缘。

3.如权利要求1所述的微电阻测量夹具装置，其特征在于，绝缘垫片中心小孔孔径与探针针头直径相当，以防止探针与试件之间的相对滑动。

4.如权利要求1所述的微电阻测量夹具装置，其特征在于，试件固定片中心通孔孔径应大于绝缘垫片小孔孔径，使探针针头能顺利通过试件固定片中心通孔，避免探针与试件固定片发生接触。

5.如权利要求1所述的微电阻测量夹具装置，其特征在于，探针固定片中心通孔孔径应大于探针笔身直径而小于探针笔头上部凸台直径，使得探针笔身能够顺利通过探针固定片中心通孔，而探针笔头上部凸台又能被探针固定片中心通孔卡住。

6.如权利要求1所述的微电阻测量夹具装置，其特征在于，试件固定片和探针固定片长度和宽度比值为4比1，且试件固定片宽度必须大于试件端部横截面的特征尺寸。

7.一种检测金属材料损伤的微电阻测量夹具装置的使用方法，它包括下述步骤：

步骤一、将试件放在两块试件固定片之间，旋转试件固定片螺母，调整两块试件固定片的距离，将试件固定，并保证试件中轴线、两端试件固定片中心通孔中心连线、绝缘垫片中心小孔中心连线三线重合；

步骤二、将已安装好探针的探针固定片套入两根固定螺杆，探针分别通过试件固定片中心通孔和绝缘垫片中心小孔与试件接触，旋转探针固定片螺母，调整两片探针固定片的距离，将探针针头固定在试件上；

步骤三、将探针用导线接出，配合灵敏电阻电桥电路，测量金属试件的初始电阻阻值；

步骤四、依次反向旋转探针固定片螺母，松开探针固定片，将探针针头与试件分离；反向旋转试件固定片螺母，松开试件固定片，将试件取出；

步骤五、将试件夹持在材料试验机上，进行疲劳、蠕变、蠕变疲劳交互作用试验，或者温度、腐蚀性环境试验；

步骤六、将经历一定加载历程或环境作用下一段时间的试件取出，重复步骤一、步骤二；

步骤七、将探针用导线接出，配合灵敏电阻电桥电路，测量经历载荷或环境作用下金属试件的现时电阻阻值，计算电阻变化率；

步骤八、重复步骤四、步骤五、步骤六、步骤七，依次测量不同载荷或环境历程下金属试件电阻阻值，记录各次电阻试验数据，直至试件达到损伤容限而失效。