[发明专利]降低对存储器接口性能影响的闪存错误检测方法及装置

权利要求书

1.一种降低对存储器接口性能影响的闪存错误检测方法，根据闪存各页所在位置的物理特性，将一个块中的页按照ECC增长的速度差异分到不同的组，在实际巡检操作中，根据不同的组分配不同的巡检周期，ECC增长越快的页组，巡检周期越短，反之越长；

所述方法还包括，根据闪存中各页所在位置的物理特性，将一个块中的页按照ECC增长的速度差异分为不同的组，在实际巡检操作中，根据不同的页组的ECC增长速度的差异分配不同的ECC巡检门限值，ECC增长越快的页组，ECC巡检门限值越低，反之越高；

所述方法还包括，对某个块中的某一页的读取操作完成后，判断该页当前ECC值是否已经超过该页所在组的巡检门限，否，则启动下一个定时周期，等待下一次定时任务；是，则将新数据写入新的页面，并让所述新页面内数据中的ECC归零。

2.根据权利要求1所述的闪存错误检测方法，所述方法还包括，在将所述新页面内数据中的ECC归零的同时，将该块内，后面还没有被读取过的页面，不等待巡检的定时器，依次读完，在确认读操作的过程中，依然和本页面所在的组对应的巡检门限值进行对比。

3.根据权利要求2所述的闪存错误检测方法，所述方法还包括，将所述块读取完成后，选择下一个块的第一页，巡检的定时器重新工作。

4.根据权利要求3所述的闪存错误检测方法，各分组根据自己的定时器的状况，依次读取组内的页，各分组同步进行读取，各分组之间没有同步协调机制，只受内部定时器的控制。

5.一种降低对存储器接口性能影响的闪存错误检测装置，其特征在于，包括

页分组模块，根据闪存中各页所在位置的物理特性，将一个块中的页按照ECC增长的速度差异分为不同的组；

巡检周期分配模块，根据不同的页组的ECC增长速度的差异分配不同的ECC巡检周期，ECC增长越快的页组，巡检周期越短，反之越长；

还包括巡检门限值分配模块，根据不同的页组的ECC增长速度的差异分配不同的ECC巡检门限值，ECC增长越快的页组，ECC巡检门限值越低，反之越高；

还包括巡检门限超出判断模块，将对某个块中的某一页的读取操作完成后，判断该页当前ECC值是否已经超过该页所在组的巡检门限；

还包括超出巡检门限处理模块，将超出的新数据写入新的页面，并让所述新页面内数据中的ECC归零。

6.根据权利要求5所述的闪存错误检测装置，其特征在于，还包括读取操作模块，在将所述新页面内数据中的ECC归零的同时，将该块内，后面还没有被读取过的页面，不等待巡检的定时器，依次读完。