[发明专利]光学薄膜的检查装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及光学薄膜的检查装置及方法。

背景技术

偏光件、TAC、相位差薄膜等之类的各种各样的光学薄膜用于图像显示装置中。由于图像显示装置的发展而用于其中的光学薄膜也要求高质量。

尤其是，偏光板由偏光件和与偏光件的至少一表面接合的保护薄膜构成，因此有以下各种各样的原因，形成各分层薄膜的树脂组成物中混合有异物的情况、树脂组成物的薄膜硬化时产生气泡的情况、各分层薄膜的层叠时层间混入异物的情况、薄膜表面产生刮痕的情况、薄膜产生翘曲的情况等。

由于上述那样的产生不良的各种各样的原因而产生各种各样形态的缺陷。例如，如果插入有异物、或者产生气泡，则光学薄膜的表面在该部位产生凹凸状的缺陷，而在产生刮痕时在薄膜表面产生直线状的缺陷。

另外，在液晶显示装置中，偏光板由上部偏光板和下部偏光板这两张构成，上部偏光板和下部偏光板可根据需要配置在其吸收轴相互垂直或者平行的位置，但是，有些缺陷在吸收轴相互垂直配置或者平行配置时更容易发现、或者仅在某一配置时才能被发现。

因而，在光学薄膜制造完成之后，为了除去产生这样的缺陷的部分而配备用于检测缺陷的工序。因而，分别需要对制造好的偏光板进行吸收轴相互垂直配置的检查及平行的配置的检查。

发明内容

本发明要解决的技术问题

本发明的目的在于，提供能够对各种光学薄膜完成各种模式的全部检查的检查装置及方法。

用于解决技术问题的方式

1.提供一种光学薄膜检查装置，其中，具备：光源部，其具备照射绿色光或者蓝色光的第一光源部及照射红色光或者红外线的第二光源部，且所述第一光源部和第二光源部交替地向偏光部照射光；偏光部，其具备配置在所述光向摄像部入射的路径上的检查对象薄膜及检查用偏光板；以及摄像部，其以所述偏光部为基准而在所述光源的相反侧对所述偏光部进行摄像。

2.在所述项目1的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，所述第一光源部一同照射绿色光和蓝色光。

3.在所述项目1的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，所述第二光源部一同照射红外线和红色光。

4.在所述项目1的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，所述检查对象薄膜为从偏光件、相位差薄膜、保护薄膜及它们的二个以上的层叠薄膜构成的组中选择出的光学薄膜。

5.在所述项目4的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，在所述检查对象薄膜包含偏光件的情况下，所述检查用偏光板的吸收轴与所述偏光件的吸收轴垂直。

6.在所述项目5的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，在所述检查对象薄膜为偏光件及相位差薄膜的层叠薄膜的情况下，所述相位差薄膜位于偏光件与所述检查用偏光板之间，且所述光为绿色光。

7.在所述项目5的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，所述检查用偏光板在第二光源部的光照射时以所述偏光件与其吸收轴成为平行的方式旋转90°。

8.在所述项目1的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，所述检查用偏光板在第二光源部的光照射时脱离所述摄像部的摄像区域而进行移动。

9.在所述项目1的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，所述检查装置用于检查对象薄膜被连续地提供的在线制造工序之中，还具备：编码器，其用于测定检查对象薄膜的移动速度；以及控制器，其通过从所述编码器接收到的移动速度来确定第一光源部及第二光源部的照射周期，进而将所述周期信号向光源部发送。

10.提供一种光学薄膜的检查方法，其中，通过照射绿色光或者蓝色光的第一光源部和照射红色光或者红外线的第二光源部、交替地向具备检查对象薄膜及检查用偏光板的偏光部照射光，以检测不良。

11.在所述项目10的基础上，提供一种光学薄膜的检查方法，其中，所述第一光源部一同照射绿色光和蓝色光。

12.在所述项目10的基础上，提供一种光学薄膜的检查方法，其中，所述第二光源部一同照射红外线和红色光。

13.在所述项目10的基础上，提供一种光学薄膜的检查方法，其中，所述检查对象薄膜为从偏光件、相位差薄膜、保护薄膜及它们的二个以上的层叠薄膜构成的组中选择出的光学薄膜。

14.在所述项目13的基础上，提供一种光学薄膜的检查方法，其中，在所述检查对象薄膜包含偏光件的情况下，所述检查用偏光板的吸收轴与所述偏光件的吸收轴垂直配置，从而完成对象薄膜的暗黑模式及白色模式的全部检查。