[发明专利]密封圈尺寸快速测量仪

说明书

技术领域

本发明及测量工具领域，尤其涉及一种密封圈尺寸快速测量仪。

背景技术

在频繁的使用更换过程中，确认密封圈的尺寸是件很麻烦的事，得用量具频繁地测量，现有的密封圈测量仪实际上是量具即卡尺，由于密封圈用如橡胶之类的材料制成，材质柔软并具有弹性在径向容易变形，卡尺仅适用于内径较小或内径与截面直径比较小的密封圈，对于内径较大或内径与截面直径比较大的密封圈，很难量准确，尺寸量不准确常常造成产品的不合格，造成不必要的浪费。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种密封圈尺寸快速测量仪。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：密封圈尺寸快速测量仪，包括测量箱，所述测量箱上表面设有挡边，所述挡边围成一个槽，所述槽内安装有一透光玻璃，所述测量箱上开设有两透光孔，所述测量箱内安装有两射灯；

所述透光玻璃上表面设有上公差滑块和下公差滑块，所述上公差滑块中心开设有上公差孔，所述下公差滑块滑块中心开设有下公差孔。

在本发明一个较佳实施例中，两所述射灯分别与两所述透光孔同轴。

在本发明一个较佳实施例中，所述槽与所述透光玻璃相配合。

在本发明一个较佳实施例中，所述上公差滑块和所述下公差滑块与所述透光玻璃滑动连接。

在本发明一个较佳实施例中，所述上公差孔与所述下公差孔的直径均小于所述透光孔的直径。

本发明的有益效果是：本发明密封圈尺寸快速测量仪，该测量仪上通过上、下公差的滑块与透光孔进行配合使用，根据密封圈外沿与上、下公差滑块内壁间的透光度来检测所测密封圈的合格性，检测的精确度高，而且速度快。

附图说明

图1是本发明密封圈尺寸快速测量仪的结构示意图。

附图中各部件的标记如下：1、测量箱；2、挡边；3、槽；4、透光孔；5、透光玻璃；6、上公差滑块；7、下公差滑块；8、上公差孔；9、下公差孔；10、射灯。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

请参阅图1，本发明实施例包括：密封圈尺寸快速测量仪，包括测量箱1，所述测量箱1上表面设有挡边2，所述挡边围成一个槽3，所述槽3内安装有一透光玻璃5，所述透光玻璃5既是用来承载密封圈，使其不会从所述透光孔4内漏下，而且使得所述射灯10的光线可以从所述透光孔4射出。

所述槽3与所述透光玻璃5相配合，使得所述透光玻璃5固定在所述测量箱1表面，不会滑动。

所述测量箱1上开设有两透光孔4，所述测量箱1内安装有两射灯10，两所述射灯10分别与两所述透光孔4同轴，所述射灯10为该测量仪提供检测时所需要的光源。

所述透光玻璃5上表面设有上公差滑块6和下公差滑块7，所述上公差滑块6和所述下公差滑块7与所述透光玻璃5滑动连接，所述上公差滑块6中心开设有上公差孔8，所述下公差滑块滑块7中心开设有下公差孔8，所述上公差孔8与所述下公差孔9用于放置所要测量的密封圈。

所述上公差孔8与所述下公差孔9的直径均小于所述透光孔4的直径。

首先将所要检测的密封圈放入所述上公差孔8内，将所述上公差滑块6移到其中一所述透光孔4的光圈内，密封圈的外径与所述上公差孔8之间无光线透出，则说明该尺寸不合格，不满足上公差。

若密封圈的外径与所述上公差孔8之间有光线透出，则再将所要检测的密封圈放入所述下公差孔9，将所述下公差滑块7移到另一所述透光孔4的光圈内，密封圈的外径与所述下公差孔9之间无光线透出，则说明该尺寸合格，满足下公差。

若密封圈的外径与所述下公差孔9之间有光线透出，则说明该尺寸不合格，小于下公差。

与现有技术相比，本发明密封圈尺寸快速测量仪，该测量仪上通过上、下公差的滑块与透光孔进行配合使用，根据密封圈外沿与上、下公差滑块内壁间的透光度来检测所测密封圈的合格性，检测的精确度高，而且速度快。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。