[发明专利]大动态范围星敏感器遮光罩消光比测量装置在审
申请号: | 201510036338.7 | 申请日: | 2015-01-23 |
公开(公告)号: | CN104567935A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 汪洪源;杜伟峰;朱成伟;董柏序;杨召松 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00;G01M11/02 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 岳昕 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 动态 范围 敏感 遮光 罩消光 测量 装置 | ||
1.大动态范围星敏感器遮光罩消光比测量装置,其特征在于:包括辐射发射与整形子系统、机械运动与控制子系统、环境杂光吸收与抑制子系统和辐射数据采集与处理子系统;
辐射发射与整形子系统、机械运动与控制子系统和辐射数据采集与处理子系统均位于环境杂光吸收与抑制子系统内部;
辐射数据采集与处理子系统包括积分球(4)和计算机(5),积分球(4)用于测量遮光罩入口与出口处的能量,并将测量结果发送至计算机(5);
辐射发射与整形子系统包括大功率宽光谱光源(1)、直流稳压电源(2)和大口径光束整形装置(3);直流稳压电源(2)用于为大功率宽光谱光源(1)提供工作电源,大口径光束整形装置(3)将大功率宽光谱光源(1)的出射光整形为平行光,所述平行光入射至遮光罩的入口;
机械运动与控制子系统用于承载遮光罩、遮光罩的支撑结构以及积分球(4),并带动遮光罩、遮光罩的支撑结构以及积分球(4)运动;
环境杂光吸收与抑制子系统为暗室,用于吸收遮光罩杂光测试过程中产生的背景杂光。
2.根据权利要求1所述的大动态范围星敏感器遮光罩消光比测量装置,其特征在于:所述的环境杂光吸收与抑制子系统的内壁覆有高吸收率材质涂层,且所述内壁上设置有吸收阱。
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