[发明专利]基于二维材料的杂化分级结构敏感薄膜传感器件制备方法有效
申请号: | 201510036987.7 | 申请日: | 2015-01-23 |
公开(公告)号: | CN104597082B | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 谢丹;李娴;徐建龙;戴睿轩;赵远帆;王靖;向兰;朱淼;朱宏伟;蒋亚东 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01N27/00 | 分类号: | G01N27/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人: | 廖元秋 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 二维 材料 化分 结构 敏感 薄膜 传感 器件 制备 方法 | ||
1.一种基于二维材料的杂化分级结构敏感薄膜传感器件制备方法,其特征在于,该传感器件包括:根据制备顺序依次层叠的单晶半导体衬底,绝缘层,叉指电极,第一聚二烯丙基氯化铵(PDDA)薄膜层,还原氧化石墨烯薄膜层,第二PDDA薄膜层,分级结构氧化锌(ZnO)-聚(对苯乙烯磺酸钠)(PSS)薄膜;
该方法包括以下步骤:
1)叉指电极器件制备:
1.1)清洗单晶半导体衬底:将单晶半导体衬底放入体积比1:4的双氧水和浓硫酸混合液中在80~85℃温度下煮10~15min,去除表面污渍,用去离子水冲洗10~15min,烘干备用;
1.2)生长绝缘层:采用热氧化方法生长二氧化硅(SiO2),厚度为100~300nm,氧化完成后,将SiO2层正面用光刻胶进行保护,放入体积比6:1的去离子水和氢氟酸溶液中超声2~3min去除背面的SiO2层,用丙酮-酒精-去离子水冲洗直至光刻胶去除干净;
1.3)光刻:对正面生长好氧化硅绝缘层的硅片,光刻曝光显影出叉指电极图形;正面旋涂光刻胶,3000~5000rpm,30~60s;前烘100~120℃,1~3min;曝光3~5s;显影;后烘100~120℃,10~15min,备用;曝光部分即为Ti/Au叉指电极;
1.4)制备电极:采用电子束蒸镀法在氧化硅绝缘层上依次蒸镀钛(Ti)/金(Au)电极,钛膜、金膜的厚度分别为10~30/80~120nm;
1.5)剥离:将步骤1.4)得到的样片放入丙酮溶液中,超声剥离去除光刻胶;用酒精、去离子水依次清洗,氮气吹干得到叉指电极器件;
2)制备传感器件所需膜层材料:
2.1)制备具有分级结构的氧化锌:将0.5~0.8g商用氧化锌粉末和1~3g氢氧化钠加入50~100mL去离子水,在80~100℃条件下搅拌2h,析出沉淀物在105℃条件下烘干12h;
2.2)配制PDDA水溶液,该水溶液的质量百分比浓度为0.1~0.5wt%:
2.3)配制二维材料氧化石墨烯水溶液,该水溶液的浓度为0.2~2mg/mL;
2.4)配制PSS水溶液,该水溶液的质量百分比浓度为0.1~0.5wt%;
2.5)配制ZnO-PSS水溶液:将分级结构氧化锌分散于PSS水溶液中,该水溶液的浓度为0.2~2mg/mL;
3)采用层层自组装方法制备杂化分级结构传感器件:
3.1)制备第一PDDA薄膜层:将步骤1)制得的叉指电极器件以8.56~85.6mm/min的沉降速度浸入PDDA水溶液中,浸泡时间为5~20min,然后以相同的速度提拉取出,氮气吹干;
3.2)将步骤3.1)制得的叉指电极器件以8.56~85.6mm/min的沉降速度浸入去离子水中,浸泡时间为1~10min,然后以相同的速度提拉取出,氮气吹干;
3.3)制备还原氧化石墨烯薄膜层5:
3.31)将步骤3.2)制得的叉指电极器件以8.56~85.6mm/min的沉降速度浸入氧化石墨烯水溶液中,浸泡时间为5~20min,然后以相同的速度提拉取出,氮气吹干;
3.32)将步骤3.31)制得的叉指电极器件以8.56~85.6mm/min的沉降速度浸入去离子水中,浸泡时间为1~10min,然后以相同的速度提拉取出,氮气吹干;
3.33)将步骤3.32)制得的叉指电极器件于150~400℃温度下退火10~60min,制得还原氧化石墨烯薄膜层5;
3.4)制备第二PDDA薄膜层:将步骤3.3)制得的叉指电极器件以8.56~85.6mm/min的沉降速度浸入PDDA水溶液中,浸泡时间为5~20min,然后以相同的速度提拉取出,氮气吹干;
3.5)将步骤3.4)制得的叉指电极器件以8.56~85.6mm/min的沉降速度浸入去离子水中,浸泡时间为1~10min,然后以相同的速度提拉取出,氮气吹干;
3.6)制备ZnO-PSS薄膜层:将步骤3.5)制得的叉指电极器件以8.56~85.6mm/min的沉降速度浸入ZnO-PSS水溶液中进行分级结构ZnO与还原氧化石墨烯的杂化过程,浸泡时间为5~20min,然后以相同的速度提拉取出,氮气吹干;
3.7)将步骤3.6)制得的叉指电极器件以8.56~85.6mm/min的沉降速度浸入去离子水溶液中,浸泡时间为1~10min,然后以相同的速度提拉取出,氮气吹干,制得杂化分级结构敏感薄膜传感器件。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510036987.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种无线传感器
- 下一篇:一种基于机器视觉的柱状二极管表面缺陷检测装置