[发明专利]一种内衬、内衬构成的腔室及内衬表面的处理方法在审

专利信息
申请号: 201510040077.6 申请日: 2015-01-27
公开(公告)号: CN104630746A 公开(公告)日: 2015-05-20
发明(设计)人: 张庆钊 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;C25D11/02;C23C4/12;C23C28/00;C23F17/00
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 刘杰
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 内衬 构成 表面 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种内衬,其特征在于,包括:外部衬体、内部衬体及底部衬体;

所述内部衬体设置在所述外部衬体的内侧,所述底部衬体与所述外部衬体的下端连接,所述底部衬体与所述内部衬体的下端连接,所述外部衬体、内部衬体及所述底部衬体连接形成环状空心一体化结构;

所述底部衬体上设置有抽气孔;

所述外部衬体、内部衬体及所述底部衬体的表面设置有第一薄膜层,所述第一薄膜层的外侧设置有第二薄膜层。

2.根据权利要求1所述的内衬结构,其特征在于,所述第二薄膜层为原子沉积层。

3.根据权利要求1所述的内衬结构,其特征在于,所述抽气孔为圆形形状,且所述抽气孔均匀地分布。

4.一种腔室,其特征在于,包括:内衬、射频线圈、耦合窗、腔室、衬底及下电极;

所述耦合窗连接在所述腔室的上端,所述下电极连接在所述腔室的下端;

所述内衬设置在所述腔室的内侧,所述衬底连接在所述内衬的下端;

所述射频线圈设置在所述耦合窗的上端。

5.根据权利要求4所述的腔室,其特征在于,所述耦合窗采用石英材料制成。

6.一种内衬表面的处理方法,其特征在于,包括:

在内衬表面利用阳极氧化或等离子喷涂的方式形成第一薄膜层;

在所述第一薄膜层表面利用原子层沉积的方式生长第二薄膜层。

7.根据权利要求6所述的内衬表面的处理方法,其特征在于,所述第二薄膜层均匀覆盖在所述第一薄膜层上。

8.根据权利要求6或7所述的内衬表面的处理方法,其特征在于,所述第二薄膜层与所述第一薄膜层的厚度相同。

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