[发明专利]一种高精度的微弱信号放大与测量方法在审
申请号: | 201510041601.1 | 申请日: | 2015-01-27 |
公开(公告)号: | CN104639053A | 公开(公告)日: | 2015-05-20 |
发明(设计)人: | 孙亚萍;朱善安;戴松世;安康;王玉槐 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | H03F1/30 | 分类号: | H03F1/30;H03M1/10 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 邱启旺 |
地址: | 310058 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高精度 微弱 信号 放大 测量方法 | ||
1.一种高精度的微弱信号放大及测量方法,该方法在微弱信号放大及测量系统上实现,所述系统包括放大电路和MCU控制电路,所述MCU控制电路内部集成A/D转换电路和基准源Vext,其特征在于,该方法包括以下步骤:
(1)将基准源Vext作为A/D转换电路的输入信号,转换后得到基准源Vext的数字量Dext;
(2)将放大电路的输入信号Vin设为0,记录放大电路输出的零漂电压Vo,经过A/D转换电路转换得到数字量Do;
(3)将待测的微弱电压信号作为放大电路的输入信号Vin,经放大电路放大K倍后通过A/D转换电路,转换得到数字量Dout;
(4)根据以下公式计算得到输入的微弱信号的实际电压Vin:
其中,D=Dout-D0,K为放大电路的放大系数。
2.根据权利要求1所述的高精度的微弱信号放大及测量方法,其特征在于,所述步骤2中,所述将放大电路的输入信号Vin设为0具体为:若输入Vin是一个从0开始变化的信号,则直接对Vin进行采样,否则,将放大电路的输入端接地进行采样。
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