[发明专利]一种内存测试方法和系统

权利要求书

1.一种内存测试方法，其特征在于，包括：

接收用户的压力添加请求，所述压力添加请求包括压力算法和待测内存物理地址的目标解析区域，所述目标解析区域为：待测内存的物理地址所包含的各个预设解析区域中的任意一个区域；

将所述压力算法关联至所述目标解析区域；

在为所述各预设解析区域分别关联相应的压力算法后，接受用户分别对各预设参数项所设定的参数值；所述各预设参数项为预先集成的、实现内存测试所需的参数项；

接收用户的内存测试请求，基于所设定的各预设参数项取值并调用所关联的各压力算法进行内存测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测内存的物理地址所包含的各预设解析区域包括：列地址区域、高端行地址区域、Rank地址区域、Bank地址区域及低端行地址区域；所述各预设解析区域为预先依据所述待测内存的物理地址解析方式或物理地址中各比特位的作用对所述待测内存物理地址进行比特位区间划分所得的各个区域。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述各预设参数项包括：是否使用cache、读写模型、校验值类型、是否加入直接内存访问DMA。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括如下的预处理过程：

为待测内存物理地址所包含的各预设解析区域分别编写相应的、可使其满负载运行的压力算法。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

为待测内存所在的印制电路板PCB配置预设的温湿度环境，以实现在预设的温湿度环境下测试内存。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

采集预设数据线及预设时钟线的电压信号，并显示所采集电压信号的电压波形，以供用户依据所显示的电压波形验证内存满载测试的有效性；

其中，所述预设数据线及预设时钟线分别为连接双倍速率同步DDR控制器与待测内存的数据线、时钟线。

7.一种内存测试系统，其特征在于，包括：

请求接收模块，用于接收用户的压力添加请求，所述压力添加请求包括压力算法和待测内存物理地址的目标解析区域，所述目标解析区域为：待测内存的物理地址所包含的各个预设解析区域中的任意一个区域；

算法关联模块，用于将所述压力算法关联至所述目标解析区域；

参数值设定模块，用于在为所述各预设解析区域分别关联相应的压力算法后，接受用户分别对各预设参数项所设定的参数值；所述各预设参数项为预先集成的、实现内存测试所需的参数项；

内存测试模块，用于接收用户的内存测试请求，基于所设定的各预设参数项取值并调用所关联的各压力算法进行内存测试。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，还包括：

预处理模块，用于为待测内存物理地址所包含的各预设解析区域分别编写相应的、可使其满负载运行的压力算法。

9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，还包括：

环境配置模块，用于为待测内存所在的印制电路板PCB配置预设的温湿度环境，以实现在预设的温湿度环境下测试内存。

10.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，还包括：

验证处理模块，用于采集预设数据线及预设时钟线的电压信号，并显示所采集电压信号的电压波形，以供用户依据所显示的电压波形验证内存满载测试的有效性；

其中，所述预设数据线及预设时钟线分别为连接DDR控制器与待测内存的数据线、时钟线。