[发明专利]一种超级电容的测试方法

权利要求书

1.一种超级电容的测试方法，其特征在于，包括测试电路，该测试电路包括连接待测电容的控制电路、与控制电路连接的反馈电路和微处理器、连接微处理器的LED显示灯，所述反馈电路连接上述微处理器；所述控制电路为待测电容的充放电电路，当向待测电容充电时，根据待测电容充放电过程中，电压、时间、容量函数关系计算该待测电容容量，测量过程由微处理器控制，计算结果存储在微处理器内并显示出来；当对待测电容充电完毕后，微处理器控制继电器而对待测电容进行放电，按一定时间间隔提取待测电容的电压，该提取的待测电容的电压数据存储在微处理器内，计算出待测电容的容量，存储在微处理器内，并显示出测量结果；

所述充放电电路具体包括：

连接待测电容输入端的继电器，与该继电器并联的显示二极管，所述继电器、并联二极管的输出端均连接同一个三极管的集电极，该三极管的发射极接地、基极通过电阻R3连接5V电压输入端；所述继电器还连接电阻R2、取样电阻R1，该取样电阻R1串联稳压电源、控制开关S，该控制开关S的输出端、取样电阻R1的输出端、电阻R2的输出端均连接待测电容的输出端。

2.根据权利要求1所述的一种超级电容的测试方法，其特征在于，所述电压、时间、容量函数关系如下：Vc=VCC(1-e^-t/RC)，其中Vc为电容器上的电压，VCC为电源电压，e为常数，R为取样电阻，C为被测电容。