[发明专利]消除静电的测试装置

权利要求书

1.一种消除静电的测试装置，其特征在于，包含：

一消除集成电路，其包括多个第一接脚、一第二接脚与一第三接脚，该多个第一接脚分别连接至少一测试集成电路的多个第四接脚，且该测试集成电路的一表面上有静电电荷，该第三接脚连接接地端，该第二接脚依序接收一开启信号与一关闭信号，在该第二接脚接收该开启信号时，该消除集成电路利用该开启信号形成介于该测试集成电路与该接地端的导通路径，并经由该多个第一接脚与该第三接脚释放该静电电荷至该接地端；以及

一测试器，包括多个探针，该多个探针分别接触该多个第四接脚，在该第二接脚接收该关闭信号时，该消除集成电路利用该关闭信号以切断该导通路径，且该测试器测试该测试集成电路。

2.如权利要求1所述的消除静电的测试装置，其中该消除集成电路还包含多个电子开关，多个电子开关分别连接该多个第一接脚，且该多个电子开关连接该第二接脚与该第三接脚，在该多个电子开关经由该第二接脚接收该开启信号时，该开启信号开启该多个电子开关，以释放该静电电荷，在该多个电子开关经由该第二接脚接收该关闭信号时，该关闭信号关闭该多个电子开关，以切断该导通路径。

3.如权利要求2所述的消除静电的测试装置，其中该多个电子开关的寄生电阻愈大，则该静电电荷经由该些电子开关造成的电流愈低；以及该多个电子开关的寄生电阻愈小，则该静电电荷经由该些电子开关造成的电流愈高。

4.如权利要求2所述的消除静电的测试装置，其中该多个电子开关为金氧半场效晶体管。

5.如权利要求4所述的消除静电的测试装置，其中每一该金氧半场效晶体管的源极与漏极分别连接该第一接脚与该第三接脚，且该多个金氧半场效晶体管的栅极连接该第二接脚。

6.如权利要求4所述的消除静电的测试装置，其中每一该金氧半场效晶体管的漏极与源极分别连接该第一接脚与该第三接脚，且该些金氧半场效晶体管的栅极连接该第二接脚。

7.如权利要求4所述的消除静电的测试装置，其中该开启信号与该关闭信号分别为高准位电压信号与低准位电压信号时，该多个金氧半场效晶体管为N通道金氧半场效晶体管；以及该开启信号与该关闭信号分别为低准位电压信号与高准位电压信号时，该多个金氧半场效晶体管为P通道金氧半场效晶体管。

8.如权利要求1所述的消除静电的测试装置，还包含一平台，该测试集成电路与该消除集成电路皆放置于该平台上。

9.如权利要求1所述的消除静电的测试装置，还包含至少一机械手臂，其用于夹持该测试集成电路并将其放置于该平台上。

10.如权利要求9所述的消除静电的测试装置，其中该静电电荷由该机械手臂或人体与该测试集成电路摩擦而产生。

11.如权利要求1所述的消除静电的测试装置，其中该测试集成电路的数量为多个时，每一该测试集成电路中的该多个第四接脚分别连接该多个第一接脚，且每一该测试集成电路中的该多个第四接脚分别接触该些探针。