[发明专利]分光计及流体分析系统

权利要求书

1.一种分光计，用于构建在传感器模块(18)中，具有辐射源(28)以及下述的限定光程或沿着光程布置的组件：

用于待检查的流体的样品空间(26)，

第一透镜(44)，

衍射件(48)，

第二透镜(50)，以及

探测器(52)，

其中，在样品空间(26)与衍射件(48)之间设置限制孔径(46)，用于限制撞击到衍射件(48)上的射线束的有效直径，

其中，限制孔径(46)被布置在第一透镜(44)与衍射件(48)之间，以及

其中，限制孔径(46)被布置在傅里叶空间中，在该空间中辐射源(28)的光被准直。

2.根据权利要求1所述的分光计，其特征在于，限制孔径(46)的宽度(d)小于第一透镜(44)的直径。

3.根据权利要求1或2所述的分光计，其特征在于，限制孔径(46)的宽度(d)在0.1至1.5mm的范围中。

4.根据权利要求3所述的分光计，其特征在于，限制孔径(46)的宽度(d)在0.1至1.0mm的范围中。

5.根据权利要求1或2所述的分光计，其特征在于，第一透镜(44)的焦距在厘米范围中和第二透镜(50)的焦距在厘米范围中。

6.根据权利要求5所述的分光计，其特征在于，第一透镜(44)的焦距在3至7cm的范围中，和第二透镜(50)的焦距在2至5cm的范围中。

7.根据权利要求1或2所述的分光计，其特征在于，定义为S＝R_B/d的锐化因子大于10，其中，R_B＝像场半径，且d＝限制孔径(46)的宽度。

8.根据权利要求7所述的分光计，其特征在于，定义为S＝R_B/d的锐化因子在30与70之间的范围中。

9.根据权利要求1所述的分光计，其特征在于，限制孔径(46)通过部件(60)中的窄的光通道(62)形成，该部件也用作为用于第一透镜(44)的支架。

10.根据权利要求1所述的分光计，其特征在于，限制孔径(46)被形成在第一透镜(44)面对衍射件(48)的一侧上承载的层(58)中。

11.根据权利要求1或2所述的分光计，其特征在于，探测器(52)是线性探测器。

12.根据权利要求11所述的分光计，其特征在于，探测器(52)是线传感器。

13.根据权利要求1或2所述的分光计，其特征在于，样品空间(26)在光程的方向上的长度为几个厘米。

14.根据权利要求13所述的分光计，其特征在于，样品空间(26)在光程的方向上的长度长于4cm。

15.根据权利要求1或2所述的分光计，其特征在于，样品空间(26)与流入通道(40a)以及流出通道(40b)连接，该流入通道以及流出通道通过环路(36a，36b)汇入样品空间(26)，其中，环路(36a，36b)被构建在包围样品空间(26)的壳体(38)中。

16.根据权利要求1或2所述的分光计，其特征在于，衍射件(48)被构建成镜光栅。

17.根据权利要求1或2所述的分光计，其特征在于，辐射源(28)是氙-闪光灯。

18.根据权利要求1或2所述的分光计，其特征在于，在光程中额外布置进入孔径(32)，即，直接在辐射源之后。