[发明专利]提高测试准确性的测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 201510053883.7 | 申请日： | 2015-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN104635142B | 公开（公告）日： | 2018-06-01 |
| 发明（设计）人： | 钱亮;索鑫 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试通道 待测芯片 测试 测试准确性 测试装置 控制器 断开 控制电源开关 测试准确度 闭合 漏电 电源开关 整体电源 多芯片 共电源 寄存器 可控制 芯片 检测 拓展 | ||
1.一种提高测试准确性的测试方法，使用测试机台对待测芯片进行测试，其特征在于，采用的测试装置包括：若干个电源开关、若干个测试通道开关、若干个寄存器及控制器，其中，所述测试机台的具有多个电源及测试通道，一个待测芯片通过一个电源开关和一个测试通道开关分别与所述电源和测试通道相连，所述测试通道与所述控制器相连，所述寄存器与所述控制器相连，所述寄存器控制所述电源开关的断开和闭合，所述控制器控制所述测试通道开关的断开和闭合；
包括步骤：
闭合一个电源下所有的电源开关，断开所有的测试通道开关，所述测试通道控制控制器；
测量一个电源下所有芯片的电流值；
若电流值大于等于最大电流，则由控制器分别控制寄存器，分别闭合一个电源下的电源开关，逐一测量出每个芯片的电流值，找出存在漏电的芯片；
所述寄存器控制与存在漏电的芯片相连的电源开关处于断开状态之后，再由所述控制器控制所有的测试通道开关闭合，由所述测试通道对所述待测芯片进行测试，从而拓展了测试通道的能力。
2.如权利要求1所述的提高测试准确性的测试方法，其特征在于，所述最大电流为5mA。
3.如权利要求1所述的提高测试准确性的测试方法，其特征在于，所述电源开关及测试通道开关均为继电器开关。
4.如权利要求1所述的提高测试准确性的测试方法，其特征在于，一个电源至少连接2个待测芯片。
5.如权利要求1所述的提高测试准确性的测试方法，其特征在于，所述控制器为FPGA芯片或者MCU。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司，未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510053883.7/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
