[发明专利]一种CT成像控制系统

说明书

技术领域

本发明属于辐射成像领域，尤其涉及一种CT成像控制系统。

背景技术

目前，传统单能、双能X射线成像通常利用闪烁体型探测器，所采集得到的信号反应了多色X射线的整体能量沉积量。由于能量沉积是对X射线能谱的能量加权积分，成像结果无法反映物质在某个能量下的衰减信息。双能成像包括多能CT利用不同的X射线能谱进行成像，具有一定的物质区分能力，但由于其物理模型所限，成像结果具有一定系统误差，且X射线能谱之间总有一定重叠区域，影响了物质区分能力，且成像效果不好，存在着一些成像模糊的地方。

因此，发明一种CT成像控制系统显得非常必要。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种CT成像控制系统，旨在解决目前的CT成像效果不好，存在着一些成像模糊地方的问题。

为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：一种CT成像控制系统，该CT成像控制系统包括检测发生器、初步探测模块、细分探测模块、数据收集模块、数据处理模块、中心处理模块、显示屏；

检测发生器，用于对成像物体进行检测执行；

初步探测模块，与检测发生器连接，用于对检测物体初步检测的；

细分探测模块，与检测发生器连接，用于对检测物体细化检测；

数据收集模块，与初步探测模块和细分探测模块连接，用于对检测数据收集；

数据处理模块，与数据收集模块连接，用于对数据收集模块收集的检测数据进行分析；

中心处理模块，与数据处理模块连接，用于对检测数据进行处理分类；

显示屏，与中心处理模块连接，用于对CT成像显示。 

进一步，初步探测模块包括X光机，光子计数探测器和低能探测器；细分探测模块包括高能探测器和平板探测器；数据收集模块包括数据采集卡和存储器，数据处理模块包括依次连接的数据降噪去干扰模块、数据滤波模块、数据校正模块；中心处理模块包括处理器，X线发生器和收发器；处理器具体采用B85-PRO GAMER主板。

进一步，X光机采用数字X光机，数字X光机的床身通过转轴安装在底座上，床身绕转轴旋转至床面处于竖直位置，床面一端安装有与床面垂直的踏板。

进一步，平板探测器的内壳与外壳之间仅通过多个连接件相连接；内壳的边缘部与外壳相连接；内壳通过连接件悬吊在外壳内部、或通过连接件悬空支撑在外壳内部；连接件为中部是柔性材料的螺栓，螺栓的一端部连接在外壳上、另一端部连接在内壳框架上；内壳包括相互固定的第一壳体和第二壳体，第一壳体上开设有用于搁置平板的收纳槽，收纳槽的槽口对着探测器窗口，收纳槽的槽壁与平板之间设置有缓冲层，第二壳体位于第一壳体的上方并且覆盖在收纳槽的槽口周围，第二壳体与第一壳体的上表面之间设置有缓冲材料。

进一步，数据滤波模块采用惯性算法对获取的去除杂波后的数据进行数据变化趋势的判断计算，依据判断结果取得当前信号的变化趋势；

惯性算法具体步骤如下：

步骤一，判断相邻2个数据的差值的绝对值是否小于系统的允许波动阈值&；当是时进入步骤二，否则进入步骤三；

步骤二，相邻2个数据的差值的绝对值小于等于系统的允许波动阈值&；则设置数据保持不变的索引变量和个数变量；然后转入步骤一对下组数据进行处理；

步骤三，判断相邻2个数据的差值是否小于负的系统的允许波动阈值&，是，则进入步骤四，否则进入步骤五；

步骤四，相邻2个数据的差值的结果小于负的系统的允许波动阈值&，则说明该相邻的量数据保持变小的惯性，设置数据变小的索引变量和个数变量，然后转入步骤一对下组数据进行处理；

步骤五，判断相邻2个数据的差值是否大于正的系统的允许波动阈值&，是，则进入步骤六，否则进入步骤七；

步骤六，相邻2个数据的差值的结果大于正的系统的允许波动阈值&，则说明该相邻的两个数据保持变大的惯性，设置数据变大的索引变量和变大的数据个数，然后转入步骤一对下组相邻的数据进行处理；否则转入步骤七；

步骤七，设置相邻的前一组数据的惯性索引变量和数据个数，转入步骤八；

步骤八，判断所有的数据处理是否完成，当是时进入步骤C551，退出；否则转入步骤一。

进一步，数据采集卡包括接口单元、缓存单元、数据发送单元和控制单元；

接口单元，将信号转换为TTL电平信号；