[发明专利]快闪存储器晶圆测试方法以及机台有效
| 申请号： | 201510054514.X | 申请日： | 2015-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN105989895B | 公开（公告）日： | 2019-03-15 |
| 发明（设计）人： | 蔡耀庭;廖修汉;连世璋 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/04 | 分类号： | G11C29/04;G11C29/06 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 汤在彦 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 闪存 储器晶圆 测试 方法 以及 机台 | ||
【说明书】：
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