[发明专利]一种平板裂缝阵天线辐射阵面误差的建模方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种平板裂缝阵天线辐射阵面误差的建模方法，具体涉及一种基于三尺度表面误差模型的平板裂缝阵天线辐射阵面误差的建模方法，属于天线技术领域。

背景技术

平板裂缝阵天线的辐射阵面误差是衡量评价整个天线结构质量的重要技术性能指标之一，它不仅直接影响天线的口面效率，还影响天线方向图的主瓣宽度和副瓣电平。现有的天线制造工艺水平和其工作环境使得阵面误差的产生不可避免，因此进行阵面误差对天线电性能影响关系的研究是必要的，而这一研究工作的基础便是对天线的阵面误差进行准确地描述。针对这一问题，在应用现有专业结构与电磁分析软件的传统分析方法中，多以周期函数或者随机函数来模拟天线阵面误差，存在建模函数不准确，计算边界条件过于理想化与工程实际严重不符，计算结果不准确无法指导工程实践等问题。

对于平板裂缝阵天线阵面误差建模中所存在的上述问题，目前该研究领域相关学术论文和专利中主要采用的处理方法是：使用周期函数或者随机函数来模拟阵面误差，进而得到天线辐射缝的轴向位移，将此轴向位移的影响导入到天线辐射缝导纳的计算之中。这类方法的优点是：所使用函数数学结构简单清晰，便于后续计算，对于低频天线也能满足基本的电性能计算精度要求。缺点是：真实工程中天线辐射阵面误差同时包含有形状误差、装配误差与加工误差，这三种误差是分属于不同尺度的表面误差。三种尺度的误差产生机理不同，分布形式也迥异，特别是加工误差，既不符合周期特性又不符合随机特性，不能使用周期函数或者随机函数来描述。而对于高频天线，其副瓣电平是非常重要的一个电性能指标，而加工误差又是影响副瓣电平的一个重要结构因素，其影响不可忽视。其次，周期函数与随机函数所使用的参数均不是“固有参数”，与测量仪器的分辨率和取样长度有关，对于同一属性的表面，不具有唯一性。不同尺度的阵面误差对天线电性能的影响机理不同，而不同的工作频率，影响其电性能的主要误差尺度也是不同的，因此考虑阵面误差的多尺度性是有必要的。

发明内容

为解决现有建模技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种更加准确、效率更高的平板裂缝阵天线辐射阵面误差的建模方法，该建模方法将实测的天线表面误差数据作为建模函数的数据来源，基于多尺度表面误差模型，在建模过程中根据实测离散数据的功率频谱图确定建模函数的尺度数、根据天线的工作频率确定多尺度分形函数的尺度分界临界值。

为了实现上述目标，本发明采用如下的技术方案：

一种平板裂缝阵天线辐射阵面误差的建模方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)制作实验样板；

(2)对实验样板的整体表面误差信息进行粗测；

(3)根据采样定律与天线工作频率，确定样板的采样区域个数与位置；

(4)对选取的采样区域内表面误差信息进行精测，提取误差数据；

(5)对大、中、小三种尺度的误差信息进行分离；

(6)对大、中、小三种尺度的误差信息进行建模；

(7)将大、中、小三种尺度误差的数学模型进行整合；

(8)根据实测天线电性能与仿真天线电性能的对比，对所建立的表面误差模型的准确性进行验证，如果符合误差精度指标，则证明该建模方法足够准确，建模结束；如果不符合误差精度指标，则重复步骤(2)至步骤(7)，直至满足精度要求为止，建模结束。

前述的平板裂缝阵天线辐射阵面误差的建模方法，其特征在于，在步骤(1)中，制作实验样板按如下步骤进行：

(1a)选择与天线样件一致的合金原料，将合金原料熔铸成板坯；

(1b)将板坯加热压制成薄板材，将薄板材放入模具中制成实验样板所需尺寸的面板雏形；

(1c)对面板雏形进行加工，得到面板；

(1d)在面板上加工辐射缝隙、镀膜，得到与所研究天线结构性能一致的实验用样板。

前述的平板裂缝阵天线辐射阵面误差的建模方法，其特征在于，在步骤(2)中，对实验样板的整体表面误差信息进行粗测，按如下步骤进行：

(2a)根据样板粗糙度量值选择轮廓测量仪的金属探头触针，前述触针的半径小于样板粗糙度均方根值的一半；

(2b)按照x向和y向等间距测量路径均匀扫描样板，得到样板的误差数据。

前述的平板裂缝阵天线辐射阵面误差的建模方法，其特征在于，在步骤(3)中，根据采样定律与天线工作频率确定样板的采样区域个数与位置按如下步骤进行：

(3a)根据步骤(2b)得到的误差数据，确定采样区域个数为天线工作波长与误差均方根值比值的5倍；