[发明专利]一种电池老化测试仪及电池老化测试方法

权利要求书

1.一种电池老化测试仪，其特征在于：包括CPU、LCD显示电路、按键电路、DEBUG串口/USB调试电路、LED指示电路以及由MP2615芯片构成的可同时工作的12路充放电电路，所述CPU由单独适配器独立供电，所述LCD显示电路、按键电路、DEBUG串口/USB调试电路、LED指示电路以及12路充放电电路分别与所述CPU连接；所述的12路充放电电路每四路由一个9V适配器供电，且该12路充放电电路的输出端均连接有水泥电阻负载放电；

所述充放电电路的充电电路包括一MP2615芯片，所述MP2615芯片的EN端与所述的CPU连接，所述MP2615芯片的SW输出端依次连接电感L1，经电阻R1后分别与所述充放电电路的放电电路的输入端和待测电池的正极连接；BST输入端接收SW输出端依次经电阻R15、电容C5的信号，进行调节输出波形；CSP和BATT端分别连接电阻R1两端，检测电池电压；

所述的放电电路包括一MOS管和一三极管，所述的MOS管的栅极经电阻R10分别与源极和所述放电电路的输入端连接；所述的三极管的集电极与所述栅极连接；所述三极管的发射极接地，基极分别与电阻R11的一端、电阻R12的一端连接；所述电阻R11的另一端分别与电容C10一端以及所述CPU连接；所述电阻R12的另一端、电容C10的另一端均接地；所述MOS管的漏极与一二极管D6的负极连接并作为放电端；所述二极管D6的正极接地；

所述的充放电电路作为副板独立于所述CPU设置；所述待测电池是放置于所述副板的电池盒内；所述电池盒包括设置于一副板上的电池放置槽，所述电池放置槽的一内壁设置有电极触头，所述电池放置槽的下侧壁上设置有电池弹性固定件，所述副板上且位于电池放置槽上方的区域设置有指示灯以及引线插槽；所述弹性固定件包括一固定杆，所述固定杆内设置有复位弹性杆；所述的电池放置槽底部开设有散热通孔。

2.根据权利要求1所述的电池老化测试仪，其特征在于：所述的CPU还连接有预留充电电路，12路充电电路的充电电流均为0.5A，所述预留充电电路的充电电流为1A。

3.一种采用权利要求1所述的电池老化测试仪进行电池老化测试的方法，其特征在于：包括充电测试和放电测试，MP2615芯片的EN引脚电平的高低控制充电和放电，当EN引脚处于高电平时，所述MP2615芯片停止对电池充电，同时所述MOS管打开，电池开始恒阻放电；当EN引脚处于低电平时，所述MP2615芯片开始对电池充电，同时所述MOS关闭，电池停止放电；所述充电测试包括以下判断方式：

1)当电池充电超时，所述MP2615芯片的CHGOK引脚处于高电平，红灯常亮，判断不合格；

2)当充电温度超过硬件设定温度，所述MP2615芯片的CHGOK引脚处于高电平，红灯常亮，判断不合格；

所述放电测试包括以下判断方式：

1)放电时间结束时，主板上的AD采样模块采集的电池电压值与设定的阈值电压进行对比，如果低于该阈值电压，红灯常亮，判断不合格；

还包括以下判断方式：

1)当电池接入，导致接触不良时，所述MP2615芯片的CHGOK引脚电平就会拉高，从而判定接触不良，蜂鸣器会发出警告，提示有电池接触不良，电池将无法充电；

2)接入电池后，如果CHGOK的引脚为高电平时，红灯常亮，开启充电使能，老化失败，告警模块蜂鸣器响起，记录错误信息；

3)接入电池后，CHGOK为低电平时，开启充电使能，进入充电流程，绿灯灭，红灯以较低的频率闪烁，定时检测CHGOK信号，判断是否充满，CHGOK处于高电平，如果电池电压值低于8.3V，则判定为不合格，红灯常亮，开启充电使能，老化失败，告警模块蜂鸣器响起，记录错误信息；

4)当CHGOK处于高电平，电池电压值大于8.3V时，关闭充电使能，进入大功率放电流程；红灯以较高频率闪烁，放电到规定时间，检测电池电压值是否大于放电阀值；放电时间未满规定时间，判定为容量不足，电池不合格，红灯常亮，开启充电使能，老化失败，告警模块蜂鸣器响起，记录错误信息；

5)当放电时间满足阀值时，开启充电使能，重新将电池充满，红灯以较低频率闪烁，定时检测CHGOK信号，判断是否充满，CHGOK处于高电平，如果电池电压值高于8.3V，则判定为合格，老化通过，绿灯常亮，灭掉红灯。