[发明专利]触控面板的触摸位置探测方法、触控面板检测方法及触控面板检测装置

权利要求书

1.一种触控面板的触摸位置探测方法，所述触控面板是在设定有二维坐标的触摸面上以网格形状配置有复数个感应区域，其中，所述方法包含：

探测处理工序，获取在所述各感应区域探测到的探测值；

校正工序，基于相关值，校正所述各探测值，从而计算与所述各感应区域对应的相关校正值，其中所述相关值是将相邻于所述各感应区域的其它感应区域的探测值对所述各感应区域的探测值所产生的影响数值化的值；

最大值搜寻工序，在所述各相关校正值中搜寻最大值；以及

触摸位置获取工序，将对应于所述最大值的感应区域作为最大区域，对包含所述最大区域和相邻所述最大区域之其它感应区域的区域，计算基于所述相关校正值的重心位置，将所述算出的重心位置作为触摸位置而获取。

2.根据权利要求1所述的触控面板的触摸位置探测方法，其特征在于还包含：

准备工序，通过所述触摸位置获取工序，获取所述触摸位置后，减少所述最大区域的所述相关校正值；以及

下一个触摸位置获取工序，在所述准备工序执行之后，再反复执行所述最大值搜寻工序和所述触摸位置获取工序，由此获取新的触摸位置。

3.根据权利要求2所述的触控面板的触摸位置探测方法，其特征在于，

在所述准备工序中，对围绕所述最大区域而相邻的其它感应区域的所述相关校正值，基于在所述其它感应区域周围的外侧与所述其它感应区域相邻的外侧感应区域的所述相关校正值来进行校正。

4.根据权利要求2或3所述的触控面板的触摸位置探测方法，其特征在于，

在所述下一个触摸位置获取工序中，所述反复执行的所述最大值搜寻工序中搜寻的最大值，对最初在所述最大值搜寻工序中搜寻的最大值的比率，没有达到预先设定的基准比率时，不再获取新的触摸位置。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的触控面板的触摸位置探测方法，其特征在于，

所述相关值包含：对应于处理对象的感应区域即关注区域所规定的关注区域相关值；对应于对所述关注区域以行方向或列方向相邻的各第1感应区域所规定的第1相关值；和对应于对所述关注区域以倾斜方向相邻的各第2感应区域所规定的第2相关值，

其中，所述第1相关值比所述关注区域相关值小，

所述第2相关值比所述第1相关值小，

所述校正工序是，将所述各感应区域依序分配在所述关注区域，将所述关注区域的探测值和所述关注区域相关值的相乘值，所述各第1感应区域的探测值和所述第1相关值的各相乘值，所述各第2感应区域的探测值和所述第2相关值的各相乘值相加，从而计算所述关注区域的相关校正值。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的触控面板的触摸位置探测方法，其特征在于，

在所述校正工序中，使所述复数个感应区域中位于所述触摸面端部边缘的感应区域的所述相关校正值与在所述位于端部边缘的感应区域的内侧相邻的感应区域的所述相关校正值相等。

7.一种触控面板检测方法，包含：

触摸处理工序，在设定有二维坐标的触摸面上以网格形状配置有复数个感应区域的触控面板的所述触摸面上，接触1个或复数个模拟手指；

触摸位置探测工序，对所述触控面板执行权利要求1至6中任一项记载的触控面板的触摸位置探测方法；以及

判断工序，对于通过所述触摸位置探测工序探测的1个或复数个触摸位置与在所述触摸处理工序中所述1个或复数个模拟手指在所述触摸面上接触的1个或复数个接触位置之间的各偏差量，判断是否至少有一个超过预先设定的基准量。

8.一种触控面板检测装置，包含：

触摸机构，在设定有二维坐标的触摸面上以网格形状配置有复数个感应区域的触控面板的所述触摸面上，接触1个或复数个模拟手指；

触摸位置探测部，对所述触控面板执行权利要求1至6中任一项记载的触控面板的触摸位置探测方法；以及

判定部，对于通过所述触摸位置探测部探测的1个或复数个触摸位置与通过所述触摸机构所述1个或复数个模拟手指在所述触摸面上接触的1个或复数个接触位置之间的各偏差量，判断是否至少有一个超过预先设定的基准量。

9.一种触控面板检测装置，包含：

触摸机构，在设定有二维坐标的触摸面上以网格形状配置有复数个感应区域的触控面板的所述触摸面上，接触1个或复数个模拟手指；

探测处理部，获取在所述各感应区域探测到的探测值；

校正部，基于相关值，校正所述各探测值，从而计算与所述各感应区域对应的相关校正值，其中所述相关值是将相邻于所述各感应区域的其它感应区域的探测值对所述各感应区域的探测值所产生的影响数值化的值；

最大值搜寻部，在所述各相关校正值中搜寻最大值；

触摸位置获取部，将对应于所述最大值的感应区域作为最大区域，对包含所述最大区域和相邻该最大区域之其它感应区域的区域，计算基于所述相关校正值的重心位置，将所述算出的重心位置作为触摸位置而获取；以及

判定部，对于通过所述触摸位置获取部探测的1个或复数个触摸位置与通过所述触摸机构所述1个或复数个模拟手指在所述触摸面上接触的1个或复数个接触位置之间的各偏差量，判断是否至少有一个超过预先设定的基准量。