[发明专利]抑制浪涌雷电波干扰的方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子设备信号处理技术领域，特别是涉及一种抑制浪涌雷电波干扰的方法。

背景技术

雷电波具有幅值范围大(0～10KV或更高)、功率大、时间短、峰值高以及波头陡(瞬时就造成损害)的特点，对于电子设备(例如电力系统继电保护装置)来说，只要其中一个这样的波形进入到电子设备，将有可能造成内部元器件的损坏或者保护装置的误动，给系统的安全稳定运行带来很大威胁。因此，电子设备抗浪涌雷电波干扰一直是困扰设计师的难题。

传统的方法往往采取钳位限幅的方法防止元器件被打坏，却很难阻止干扰波进入装置并对有效信号进行干扰。由于雷电波极性不确定，可正可负，一个很大幅值的雷电波形被微机系统捕捉到就会瞬间放大或者缩小有效信号(模拟量信号)的幅值，从而造成继电保护装置误动作。故，钳位限幅的方法只能挡住幅值过高的波形避免元器件的损坏，却无法防止干扰波形随有用信号进入装置而被采集到，无法防止保护装置误动。采用多方接地技术和屏蔽技术将干扰波挡在装置外也是传统的抗干扰措施，但由于雷击干扰是多方位的，这些措施往往效果都不是太好，很多保护装置实际运行中仍然无法经受住这种干扰波的考验。由于雷电波不是高频或低频信号，传统的硬件滤波电路对其也很难能起到作用。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种抗干扰性强的抑制浪涌雷电波干扰的方法。

一种抑制浪涌雷电波干扰的方法，用于抑制浪涌雷电波对电子设备内的模拟量信号的干扰，包括以下步骤：按预设采样频率对所述模拟量信号进行采样；获取目标采样点的采样值A_n；获取与所述目标采样点相邻的两个采样点的采样值A_n-1、A_n+1；判断目标采样点是否受到浪涌雷电波的干扰；具体为，判断采样值A_n、A_n-1以及A_n+1是否满足k|A_n-A_n-1|＞A_n-1和k|A_n-A_n+1|＞A_n+1，其中k的范围为2.0～5.0；若采样值A_n、A_n-1以及A_n+1满足k|A_n-A_n-1|＞A_n-1和k|A_n-A_n+1|＞A_n+1，则目标采样点受到浪涌雷电波的干扰；若所述目标采样点受到浪涌雷电波的干扰，则对目标采样点进行滤波处理。

在其中一个实施例中，所述对目标采样点进行滤波处理的步骤具体为：根据与目标采样点相邻的两个采样点的采样值确定目标采样点的数据值；将所述数据值赋给所述目标采样点。

在其中一个实施例中，所述根据与目标采样点相邻的两个采样点的采样值确定目标采样点的数据值的步骤中确定所述目标采样点的数据值A_n′的公式为：A_n′＝0.5×(A_n-1+A_n+1)。

在其中一个实施例中，所述判断目标采样点是否受到浪涌雷电波的干扰的步骤中，若所述目标采样点未受到浪涌雷电波的干扰，则不对所述目标采样点进行操作。

在其中一个实施例中，按预设采样频率对所述模拟量信号进行采样的步骤中，采样周期大于所述浪涌雷电波的宽度。

在其中一个实施例中，所述预设采样频率为1200赫兹。

在其中一个实施例中，所述获取目标采样点的采样值A_n的步骤之后还包括步骤：判断所述目标采样点的采样值A_n是否大于或等于保护阈值；若否，则执行所述获取目标采样点的采样值A_n的步骤之后的步骤。

在其中一个实施例中，所述判断所述目标采样点的采样值A_n是否大于或等于保护阈值的步骤中，若所述采样值A_n大于或等于所述保护阈值，则执行所述对所述目标采样点进行滤波处理的步骤。

在其中一个实施例中，还包括步骤：将所述电子设备接地。

上述抑制浪涌雷电波干扰的方法可以根据目标采样点以及与目标采样点相邻的两个采样点的采样值之间关系判断目标采样点是否受到浪涌雷电波的干扰，从而在目标采样点受到干扰后对该目标采样点进行滤波处理，从而避免电子设备因干扰而带来误动作，系统的抗干扰性强。

附图说明