[发明专利]一种非接触式数字液位检测仪及其工作方法在审

专利信息
申请号: 201510062610.9 申请日: 2015-02-06
公开(公告)号: CN104697607A 公开(公告)日: 2015-06-10
发明(设计)人: 叶晓龙 申请(专利权)人: 太仓天衡电子科技有限公司
主分类号: G01F23/292 分类号: G01F23/292
代理公司: 江苏圣典律师事务所 32237 代理人: 贺翔
地址: 215400 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 接触 数字 检测 及其 工作 方法
【说明书】:

技术领域

    本发明涉及一种检测领域,具体是一种液位检测的非接触式数字液位检测仪及其工作方法。

背景技术

液位测量在许多工业中对保证生产安全和高产优质具有十分重要的作用。在各种化工、食品、石油、仓储等工业生产过程中,经常要对存储在储仓、罐和其它容器中的生产原料及产品、液体或固体的体积或者高度进行测量和控制以确保声场的正常进行,通常方法是对物位进行测量,而物位又分为液位、料位、界面三种。即:

液位是指:积存于各种容器内的液体表面高度及所在的位置称为液位,如油罐、水库、水塔等容器内所储的液体表面的位置或高度。

料位是指:固体颗粒、粉料、块料的高度或表面所在位置称为料位,如炉、罐、槽内的颗粒状或粉末状固体物质的体积或高度。

界位是指:两种或以上的不同比重且不相容的分界面,如油与水的分界面,用于测量这些参数的传感器称为物位传感器,其中,根据测量的物位范围或测量对象不同,又分为:液位传感器、料位传感器及界位传感器。

液位测量技术在工程领域有着极为广泛的应用,在一般的生产工艺加工过程中,通常只需要对物料的表面位置进行记录和储存,以作为确保生产工艺、安全等方面的需要。其次、随着生产自动化程度的不断提高、必须首先对液位测量数据进行控制与调节、以保证自动化生产能够自动控制在最佳状态;再就在现代化的企业生产过程中,计算机用于生产控制中心已越来越普及,人们都采用计算机控制系统对生产进行各种综合控制与管理,所以液位测量技术也随之提出更高的要求、控制系统也更趋智能化、统一化,要求测量的对象广、测量的精度要求高、可靠性要好、测量环境特殊、实用性要强等,所以给测量带来了很大的困难、尤其是液面具有波动或有气泡或液面高度随时间改变的动态测量,被测物具有粘滞性或是导电介质等情况时,如何来提高测量精度,有时还要考虑容器的密封性,介质是否含有腐蚀物以及是否具有毒性和易爆性等问题对测量要求的影响,因此,为了满足各种不同测量条件的要求,人们必须在非接触检测仪方面做更深的研究,不断的对其技术加以改进才能满足市场的要求。

发明内容

    发明目的:本发明的目的是为了解决现有技术的不足,提供一种非接触式数字液位检测仪及其工作方法。

技术方案:为了实现以上目的,本发明所述的一种非接触式数字液位检测仪及其工作方法,包括:壳体、支撑杆、固定板、传感器、单片机控制系统和显示器,所述支撑杆与固定板连接,所述固定板固定于机体上,所述传感器设于支撑杆的顶部,所述单片机控制系统设于机体的内部,所述显示器设于壳体上,所述单片机控制系统的两端分别与传感器和显示器连接;所述单片机控制系统包括:输入端、中央处理器、寄存器、存储器、运算器和输出端,所述输入端、寄存器、程序存储器、运算器和输出端均与中央处理器连接,所述输入端的两端分别与传感器寄存器连接,所述寄存器设于输入端和存储器之间,所述运算器设于中央处理器和存储器之间,所述输出端设于中央处理器和显示器之间。本发明所述的一种非接触式数字液位检测仪其通过传感器发出光脉冲,通过单片机控制系统检测光脉冲从发射到被物质反射回来的时间来计算该物质的液位,有效避免了传感器及整个测量仪与物质接触,能够对测量仪自身及测量的工作人员起到很好的安全保护作用,同时通过单片机控制系统来控制整个测量过程,提高了测量精确度,也简化了测量的操作步骤,进而让其更好的满足市场的需求。

本发明所述的壳体为封闭式,能够有效的检测仪本身被测量物质所腐蚀,起到很好的保护作用。

本发明所述传感器采用距离传感器,利用其光脉冲发射和被反射后接收到的时间来计算液位的高度,进而有效的避免了其与物质接触。

本发明所述单片机控制系统为可编单片机控制系统,能够根据检测物质的需要来改编单片机控制系统内的程序,进而让其适用于多种物质的测量,扩大了其检测的范围。

本发明所述显示器上设有开关和调节按钮,方便员工的操作。

一种非接触式数字液位检测仪及其工作方法,该非接触式数字液位检测仪的具体工作方法如下:

(A)、首先把该非接触式数字液位检测仪安装于所需检测的液位的机台上;

(B)、待需要检测时,工作人员按下开关按钮,此时检测仪开始工作;

(C)、然后传感器向机台内的液面发出光脉冲,同时,单片机控制系统测出光脉冲从发射到被物质反射回来的时间;

(D)、此时中央处理器将会让输入端把接收到的数据传送至寄存器,再命令寄存器再把数据传送至运算器;

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