[发明专利]基表测试装置及其测试方法有效
申请号: | 201510063522.0 | 申请日: | 2015-02-06 |
公开(公告)号: | CN104677312B | 公开(公告)日: | 2018-01-16 |
发明(设计)人: | 马占林 | 申请(专利权)人: | 华立科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/27 | 分类号: | G01B11/27 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310023 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 装置 及其 方法 | ||
技术领域
本发明涉及基表测试技术领域,特别是指一种基表测试装置及其测试方法。
背景技术
随着超声波技术的成熟,目前热量表和水表都在采用超声波技术测量流量,而测量基表目前普遍采用的是立柱反射式测量方式,这种基表具有测量精度高等优点。但随之对基表生产装配工艺提出更高要求,否则测量将会产生很大偏差。目前常规检验方法只能通过游标卡尺等测量工具进行测量。由于基表的特殊性,有些关键参数根本无法测量,如两个反射镜面与水平面的反射角是否为45度,两个反射镜面的曲面平整度以及与基表管道的同轴度无法准确测量。
发明内容
本发明提出一种基表测试装置及其测试方法,解决了现有技术中无法测量基表同轴度的问题。
本发明的技术方案是这样实现的:
一种基表测试装置,包括激光发生器、透明板以及被测基表,其中
所述被测基表倒置于所述透明板上;
所述被测基表具有两个通孔,在所述通孔内分别设置有固定块,且在所述固定块上设有反射镜面;
在其中一个所述通孔的入口端设有激光发生器,另一个所述通孔的入口端设有可接收激光的图像传感器。
作为优选的技术方案,两个所述通孔内的反射镜面均为45°反射镜面,且对立设置。
作为优选的技术方案,所述激光发生器的工作面为圆形,且与所述通孔的入口端同心设置。
作为优选的技术方案,所述透明板为透明玻璃板。
作为优选的技术方案,所述图像传感器为感光耦合元件(charge-coupled device,CCD)或互补式金属氧化物半导体有源像素传感器(CMOS Active pixel sensor)。
作为优选的技术方案,所述图像传感器还连接有显示器。
一种基表测试方法,包括:
倒置被测基表至透明板上;
用固定块将激光发生器与所述被测基表的一侧反射镜面的入口端定位好,保证激光发生器的工作面与反射镜面入口端同心;
预先设定好测量上限和测量下限;
接通电源,使激光束经过两个45°反射镜面反射垂直照射到图像传感器上,通过图像传感器转换为电信号成像在显示器上。
本发明的基表测量装置能够测量基表同轴度的问题,弥补了现有技术的缺陷,而且操作方便,准确,直观;设备投入成本低,利于市场化推广应用。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施方案或现有技术中的技术方案,下面将对实施方案或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施方案,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一种基表测试装置的结构示意图;
图2为本发明一种基表测试装置的合格基表的结构示意图;
图3为本发明一种基表测试装置的不合格基表的测量图;
图4为本发明一种基表测试装置的合格基表测量成像图;
图5为本发明一种基表测试装置的不合格基表测量成像图。
其中:
1-被测基表、2-反射镜面、3-激光束、4-激光发生器、5-透明板、6-图像传感器、7-测量上限、8-激光光柱投影(实际测量值)、9-测量下限。
具体实施方式
下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
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