[发明专利]基于多频段双极化后向散射实测数据对地表等效介电常数与粗糙度的反演算法在审

专利信息
申请号: 201510063784.7 申请日: 2015-02-06
公开(公告)号: CN104636617A 公开(公告)日: 2015-05-20
发明(设计)人: 吴振森;张元元;曹运华 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 北京恒都律师事务所 11395 代理人: 李向东
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 频段 极化 散射 实测 数据 地表 等效 介电常数 粗糙 反演 算法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种基于多频段双极化后向散射实测数据对地表等效介电常数与粗糙度参数的反演算法。

背景技术

地表的介电常数和粗糙度在地表遥感、地表与地面目标复合散射计算等领域具有重要的价值。而在实际应用时,不管是对单一地表的测量,还是通过星载或机载SAR成像获得的大区域地貌,都难以获得精确的地表介电常数和粗糙度。

由于难以较准确地测量各类地表的介电常数和粗糙度参数,因此提出了等效参数的概念。相关研究人员,利用单波段观测数据,反演了地表的等效粗糙度、介电常数、土壤湿度等。但是,单一波段数据反演等效介电常数和粗糙度时,利用不同波段反演的粗糙度会不同,与粗糙度与波段无关的事实不符其反演精度和可信度较低。

故现有技术有待改进和发展。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种能够获得精确的地表等效介电常数和粗糙度的基于多频段双极化后向散射实测数据对地表介电常数与粗糙度参数的反演算法。

本发明的技术解决方案是:基于多频段双极化后向散射实测数据对地表等效介电常数与粗糙度参数的反演算法,包括以下步骤

S1:实验测量多频段地表HH极化和VV极化的后向散射系数;

S2:利用粒子群算法,求解适应度函数的最小值及最小值对应的自变量。

所述适应度函数为:

g1(ϵ,ϵ,σ,l)=Σf[Σθi|σHH(ϵf,ϵf,σ,l,θi)-σ^HH(ϵf,ϵf,σ,l,θi)|2+Σθi|σVV(ϵf,ϵf,σ,l,θi)-σ^VV(ϵf,ϵf,σ,l,θi)|2].]]>

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