[发明专利]一种印品文字的质量检测方法有效

专利信息
申请号: 201510065317.8 申请日: 2015-02-06
公开(公告)号: CN104614384B 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: 徐艳芳;廉玉生;宋月红;李修 申请(专利权)人: 北京印刷学院
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956;G06T7/00
代理公司: 北京市广友专利事务所有限责任公司11237 代理人: 耿小强
地址: 102600 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 文字 质量 检测 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种印品文字的质量检测方法,属于印刷技术领域。

背景技术

印刷品在人们的日常生活中不可缺少,如书籍、包装品等。对任何印品而言,文字都是重要的内容,特别是对于书籍、报刊,以及商品说明等印品,文字的印刷质量尤为重要。但目前的印品质量检测中,仅靠视觉感知对不同字号文字的印刷质量进行评判,尚没有量化的指标。

在可借鉴的相关技术中,国际标准ISO/IEC 13660和ISO/IEC TS 24790,针对打印和复印等办公设备硬拷贝输出在白色基材上的非彩色单色成像质量,对线条、大面积实地色,以及背景噪声等印品的成像质量进行了指标定义,可用于该领域硬拷贝成像质量的客观测量和评价。其中,对于字符文字,除了与之相关的线条质量属性外,还定义了反映其笔划内含有漏印缺陷的指标“填充”,即漏印的面积占整体笔划的面积比。但这种定义,对于笔划的暗度、笔划印迹常常发生的“膨胀”或边缘“残缺”等,并没给出测评指标。此外,汉字字体形态丰富、笔划繁简多样,相同的印刷条件,印品质量也会有很大差异。比如,相同字号的文字,笔划相对最宽的黑体容易出现笔划变宽的现象,而相对较窄的宋体,则容易出现笔划残缺的现象。不同宽度笔划文字的暗度也明显不同。这些现象在诸如卡制品、医药产品说明书等使用小字号文字的印品中更易出现。

因此,能够针对汉字的形态特征,直接给出文字暗度和笔划缺陷特征等较全面信息的量化评价,对印品文字的质量表征是十分必要的。

发明内容

本发明的目的是建立一种印品文字的印刷质量检测方法,包括印版和最终印刷品。通过获取印品上文字的数字影像及利用图像分析技术,将该文字与其数字原稿进行比对来获得文字的印刷质量。

一种印品文字的质量检测方法,包括以下步骤:

(1)以矢量文字及在文字上方加载的双圆点图标作为数字原稿,将数字原稿转换为*.GIF或*.bmp影像,印制输出得到检测图样;

(2)采用高分辨力的数字成像系统,对该成像系统进行分辨力标定和光反射率校准;

(3)通过数字成像系统,将印品文字检测图样转换成高分辨率的RGB数字影像;

(4)对步骤(3)获得的RGB数字影像,由步骤(2)的校准关系,得到光反射率灰度影像;

(5)对步骤(4)得到的灰度影像,进行方位校正;

(6)将步骤(5)得到的校正后文字灰度影像的分辨率变换为其数字原稿的分辨率,并按数字原稿的提取方式,提取出该样品影像中的文字区域;

(7)对步骤(6)得到的文字样品影像,通过与其数字原稿影像文字区域的同位置像素比较和分析,得到文字质量指标值。

步骤(1)中,在排版软件中制作矢量文字图样,并在文字上方加载双圆点图标,数字原稿为*.ai格式,文字图标设计包括暗色和亮色文字;之后,将文字矢量图样转换为适宜的高分辨率*.GIF或*.bmp影像,印制输出得到检测图样;最后,在高分辨率文字影像中根据双圆点图标定位取出仅包含文字的区域,为检测用文字区域影像。

所用印品文字的数字原稿为欲关注字号和字体的有代表性的文字。所关注的字号为特定印制方式中需应用或对印制质量有代表性的字号,如4磅;有代表性的字体需选择能够代表汉字的常用字体特征,如宋体或黑体;有代表性的文字需含有横、竖、斜等不同方向的笔划。

文字上方的双圆点图标为水平方向分开的两个同大小圆点,两圆点圆心在同一水平线上,分开距离稍大于所要测试的文字区域宽度。

步骤(2)中,数字影像成像系统的分辨力须满足分析精度的要求,即须能保证欲分析的最细笔划宽可用数个成像像素表示。

对于由光学放大和CCD成像器件组成的CCD数字成像系统,CCD成像器件对所用成像白光光源调整到白平衡,选用一定的放大倍率,在选用的显微成像条件下,对该成像系统进行分辨力标定和光反射率校准。

对CCD成像系统分辨力标定的方法,包括如下步骤:

1)由CCD成像器件拍摄双圆点标尺图标,形成标尺图标的数字影像;双圆点标尺图标包括两个直径相同的圆点,圆点的直径和两圆点圆心距可根据需要进行设计和调整。

2)由双圆点标尺图标数字影像中两圆点圆心距对应的像素数计算该成像条件下数字影像的分辨力。

其中,实际选用的分辨力应根据欲检测的字体大小确定。如针对4磅大小的文字检测,系统所成数字影像的每个像素对应成像物面上的线度不大于2μm。

对CCD数字成像系统的光反射率校准的方法,包括下述步骤:

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