[发明专利]一种用于探针式微波电压测量系统的校准装置、系统及方法有效

专利信息
申请号: 201510072783.9 申请日: 2015-02-11
公开(公告)号: CN104678339B 公开(公告)日: 2017-05-17
发明(设计)人: 李贵兰;马蔚宇;黄建领;叶娟 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京正理专利代理有限公司11257 代理人: 张雪梅
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 探针 式微 电压 测量 系统 校准 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种用于探针式微波电压测量系统的校准装置,该装置包括微波信号输入端和微波信号输出端,其特征在于,该装置进一步包括

标准微带线、探针负极触盘、探针负极触点、探针正极触点、探针定位支架和参考测量单元;

所述标准微带线,用于传输由微波信号输入端输入的微波信号;

所述微波信号输出端,用于输出来自标准微带线的微波信号;

所述探针负极触盘采用切角设计;

所述探针负极触点、探针正极触点和所述探针定位支架,用于对探针进行定位;

所述探针与所述参考测量单元等效并联在微波信号输出端。

2.根据权利要求1所述的校准装置,其特征在于,所述标准微带线、探针负极触盘、探针负极触点和探针正极触点置于标准微带电路板上,所述标准微带电路板为宽带设计,适用频率为DC~18GHz。

3.根据权利要求1所述的校准装置,其特征在于,所述探针定位支架是玻璃钢支架。

4.一种微波电压测量校准系统,其特征在于,该系统包括信号源、探针式微波电压测量系统和如权利要求1所述的校准装置;

所述校准装置,用于采集来自信号源产生的微波信号,并在微波信号输出端形成参考测量单元与探针的并联;

所述参考测量单元,用于测得来自所述微波信号输出端的微波信号的标准微波电压值V0,作为参考标准值;

所述探针式微波电压测量系统进一步包括微波检波器和数据处理单元;

所述微波检波器,用于将与所述参考测量单元等效并联在微波信号输出端的探针测量所得的微波信号电压转换为直流电压信号;

所述数据处理单元,用于测得所述微波检波器输出的直流电压信号的电压值V1,并根据所述参考测量单元测得的标准微波电压值V0与所述微波检波器输出的直流电压信号的电压值V1,得到微波信号的校准曲线。

5.根据权利要求4所述的微波电压测量校准系统,其特征在于,所述探针通过所述校准装置中的探针定位支架、探针负极触点和探针正极触点进行定位。

6.根据权利要求4所述的微波电压测量校准系统,其特征在于,所述探 针的特性阻抗可以为任意非零值。

7.根据权利要求4所述的微波电压测量校准系统,其特征在于,所述探针式微波电压测量系统进一步包括滤波器,用于滤除所述微波检波器输出的直流电压信号中的高频干扰信号。

8.一种利用如权利要求4所述的微波电压测量校准系统的微波电压测量校准方法,其特征在于,该方法包括:

运用所述校准装置传输来自信号源产生的微波信号;

运用所述参考测量单元采集来自所述校准装置的微波信号输出端的微波信号,并测量该微波信号的功率或电压,作为参考标准值;

运用探针定位支架、探针正极触点和探针负极触点将探针与所述参考测量单元等效并联,运用所述探针探测来自所述校准装置的微波信号输出端的微波信号;

运用微波检波器将探针测量的微波信号电压转换为直流电压信号;

根据所述参考测量单元测得的参考标准值与所述微波检波器所得直流电压信号,计算得到所述探针的校准值。

9.根据权利要求8所述的微波电压测量校准方法,其特征在于,所述探针通过所述校准装置中的探针定位支架、探针负极触点和探针正极触点进行定位。

10.根据权利要求8所述的微波电压测量校准方法,其特征在于,所述探针的特性阻抗可以为任意非零值。

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