[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201510075482.1 申请日: 2015-02-12
公开(公告)号: CN105448906A 公开(公告)日: 2016-03-30
发明(设计)人: 生野徹 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L29/78;H01L29/861;H01L29/866
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王成坤;胡建新
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,具备:

第1导电型的第1半导体区域;

第1电极,设置在所述第1半导体区域之下;

第2导电型的第2半导体区域,选择性地设置在所述第1半导体区域之上;

第1导电型的第3半导体区域,选择性地设置在所述第2半导体区域之上;

第2电极,隔着第1绝缘膜而设置在所述第1半导体区域、所述第2半导体区域及所述第3半导体区域;

第1整流元件,隔着第2绝缘膜设置在未配置所述第2半导体区域、所述第3半导体区域、所述第1绝缘膜及所述第2电极的所述第1半导体区域之上,并具有交替地排列有第4半导体区域、及导电型与所述第4半导体区域不同的第5半导体区域的构造;

第2整流元件,隔着所述第2绝缘膜设置在未配置所述第2半导体区域、所述第3半导体区域、所述第1绝缘膜及所述第2电极并且未配置所述第1整流元件的所述第1半导体区域之上,并具有交替地排列有第6半导体区域、及导电型与所述第6半导体区域不同的第7半导体区域的构造;

第3电极,设置在所述第1半导体区域的上侧,与所述第3半导体区域电连接,并与所述第1整流元件的所述第4半导体区域中的任一个第4半导体区域及所述第2整流元件的所述第6半导体区域的任一个第6半导体区域电连接;以及

第4电极,设置在所述第1半导体区域的上侧,与所述第2电极电连接,包围所述第3电极,与所述第1整流元件的所述任一个第4半导体区域以外的所述第4半导体区域、及所述第2整流元件的所述任一个第6半导体区域以外的所述第6半导体区域电连接。

2.如权利要求1所述的半导体装置,

所述第4半导体区域及所述第6半导体区域的导电型是第1导电型,所述第5半导体区域及所述第7半导体区域的导电型是第2导电型。

3.如权利要求1所述的半导体装置,

所述第4半导体区域及所述第6半导体区域的导电型是第2导电型,所述第5半导体区域及所述第7半导体区域的导电型是第1导电型。

4.如权利要求1~3中任一项所述的半导体装置,

所述第1整流元件与配置有所述第2半导体区域、所述第3半导体区域、所述第1绝缘膜及所述第2电极的区域并列配置。

5.如权利要求1~3中任一项所述的半导体装置,

所述第2整流元件沿着配置有所述第2半导体区域、所述第3半导体区域、所述第1绝缘膜及所述第2电极的区域配置。

6.如权利要求1~3中任一项所述的半导体装置,

所述第4半导体区域及所述第5半导体区域配置成环状。

7.如权利要求1~3中任一项所述的半导体装置,

所述第6半导体区域及所述第7半导体区域沿着配置有所述第2半导体区域、所述第3半导体区域、所述第1绝缘膜及所述第2电极的区域配置。

8.如权利要求1~3中任一项所述的半导体装置,

配置有所述第2半导体区域、所述第3半导体区域、所述第1绝缘膜及所述第2电极的区域具有至少一个角部,

所述第2整流元件具有沿着所述角部弯曲的区域。

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