[发明专利]超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量装置及测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及超短脉冲的时间波形和啁啾率测量装置及测量方法，包括皮秒量级和飞秒量级的单次超短脉冲。

背景技术

超短脉冲的时间波形是物理实验中的一项重要技术参数，决定了超短脉冲与物质相互作用时的实时功率。啁啾率是超短脉冲激光系统的研制与调试中的一项重要技术参数，决定了脉冲宽度展宽和压缩的可行性。

传统的激光脉冲的时间波形测量方法，有示波器和条纹相机两种。当采用16GHz的高速示波器进行脉宽测量时，综合考虑快响应光电管、屏蔽电缆线、以及相应的接口电路元器件的带宽，其上升沿响应为71.5ps，即时间分辨率大于71.5ps。当采用条纹相机时，其时间分辨率为2.85ps。当采用单次自相关仪时，极限分辨率能够达到7fs左右，能够用于皮秒级(10^-12秒)和飞秒级(10^-15秒)超短脉冲的脉冲宽度分析和测量。但是单次自相关仪在时间轴上关于中心位置呈对称结构，无法分辨脉冲的前沿和后沿，不具有时间波形测量能力。近年来基于自相关方法发展的频率分辨光学开法(Frequency-resolved Optical Gating，FROG)也无法分辨脉冲的前沿和后沿，因此也不具有时间波形和啁啾率测量能力。

夏彦文在2009年申请了专利“一种用于高功率激光测试系统的光纤耦合方法”(申请号：CN200910215304)，用于纳秒级(10^-9秒)时间波形测量，通过降低示波器的使用数量来降低成本。曹婧在2010年申请了专利“高功率激光器多路光纤采样时间波形测量装置”(申请号：CN201010129603)，也用于纳秒级(10^-9秒)时间波形测量。吴正香在2013年申请了专利“超快光脉冲时间波形的测量装置”，(申请号：CN201310103586)采用了基于光波导的折射率偏转技术用于皮秒量级的时间波形测量。孙志红在2014年申请了专利“一种激光脉冲波形测量装置”，(申请号：CN201410115538)采用了基于光波导的多次反射技术用于皮秒量级的时间波形测量。牛振国在2014年申请了专利“单次超快脉冲时间波形和信噪比的测量装置”，(申请号：CN201410524967)采用了基于光波导的折射率偏转技术和光纤阵列技术用于皮秒级时间波形测量。

皮秒量级超短脉冲的光谱宽度大约为1-6nm，飞秒量级超短脉冲的光谱宽度大约为20-50nm。啁啾率为脉冲宽度与光谱宽度的比值。超短脉冲的展宽和压缩过程中脉冲宽度发生变化，但是光谱宽度保持不变，因此啁啾率随着脉冲宽度的变化而变化。当啁啾率为线性时，超短脉冲能够被光栅所展宽和压缩。当啁啾率为非线性时，超短脉冲不能够被光栅所展宽和压缩。因此啁啾率的测量是超短脉冲的研究工作中非常重要的一项技术参数。目前啁啾率的测量手段是分别使用自相关仪测量超短脉冲的宽度、使用光谱仪测量超短脉冲的光谱，间接得到啁啾率。这将使整体光路结构复杂，增加了超短脉冲测量工作的复杂度。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术的不足，提供一种超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量装置，基于互相关方法实现超短脉冲的前沿和后沿的高精度分辨，提供时间波形和脉冲宽度的分辨能力，同时具备光谱分辨能力，能够在同一套测量装置上直接测量超短脉冲的啁啾率。这将有助于快速判断被测脉冲啁啾率的线性程度，评价其是否具有可压缩性。

本发明的技术解决方案是：

一种超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量装置，其特点在于，包括第一耦合镜、第二耦合镜、分光镜、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、互相关晶体、二倍频晶体、第四反射镜、第五反射镜、衍射元件、光电探测器和计算机；

上述各部件的位置关系如下：

沿被测超短脉冲方向依次是所述的第一耦合镜、第二耦合镜和分光镜，该分光镜将所述的被测超短脉冲分为反射脉冲和透射脉冲，在所述的反射脉冲方向依次是所述的第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜和互相关晶体，在所述的透射脉冲方向依次是所述的二倍频晶体、第四反射镜和互相关晶体，在所述的互相关晶体产生的互相关信号方向依次是所述的第五反射镜、衍射元件和光电探测器，该光电探测器的输出端与所述的计算机的输入端相连。

所述的互相关晶体为非线性晶体，包括BBO、LBO、KDP或YCOB。

所述的衍射元件(12)是光栅或棱镜。

利用所述的测量装置进行超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量方法，其特点在于，该方法包括如下步骤：