[发明专利]面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法在审
申请号: | 201510079568.1 | 申请日: | 2015-02-13 |
公开(公告)号: | CN104598699A | 公开(公告)日: | 2015-05-06 |
发明(设计)人: | 徐东超;绳伟光;何卫锋;毛志刚 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 面向 systemc 电路 模型 错误 敏感度 分析 方法 | ||
1.一种面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法,包括如下步骤:
步骤一,对测试电路进行SystemC建模;
步骤二,验证SystemC仿真模型的功能正确性;
步骤三,选取仿真模型故障注入点;
步骤四,在SystemC仿真模型运行过程中,对所选取的故障注入点进行随机的信号位翻转,以模拟软错误故障,实现故障注入;
步骤五,结合测试电路SystemC仿真模型、故障注入点的选取以及故障注入实现,构建仿真故障测试平台;
步骤六,基于仿真故障测试平台进行统计实验;
步骤七,将面积因子引入软错误敏感度指标,计算获得电路的软错误敏感度。
2.如权利要求1所述的一种面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法,其特征在于:步骤一中,根据标准SystemC语言标准与参考手册以及测试电路实现细节对测试电路进行SystemC建模。
3.如权利要求1所述的一种面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法,其特征在于:步骤二中,采用自底向上的验证策略,使用Verilog/SystemC混合仿真的验证方法,对电路各模块逐个进行功能验证。
4.如权利要求3所述的一种面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法,其特征在于,步骤二进一步包括:
使用待验证SystemC模块替换原电路设计中对应模块,以组成混合系统;
以原电路设计作为对照系统,使用脚本语言实现不同测试负载的自动加载与系统运行;
对相应测试模块的输出端口数据进行周期记录;
使用脚本实现混合系统与对照系统运行所产生的数据记录文件的自动化比较,如果相同则表示SystemC模块功能正确,否则需要对SystemC模型进行修改。
5.如权利要求1所述的一种面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法,其特征在于:步骤三中,分析SystemC仿真模型实现细节,选择电路内部模块输出端口信号以及模块内部所有控制、数据信号作为故障注入点。
6.如权利要求1所述的一种面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法,其特征在于:步骤四中,征是,使用仿真命令法实现故障注入,使用C++语言,通过对仿真模型内部随机信号数据位进行翻转,实现故障注入。
7.如权利要求6所述的一种面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法,其特征在于:随机信号位的翻转包括单比特信号翻转以及多比特信号中某一随机位的翻转。
8.如权利要求1所述的一种面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法,其特征在于,步骤五进一步包括
使用伪随机数生成函数产生故障注入时间与故障注入位置;
根据故障注入时间控制仿真模型的运行、暂停与重启;
在仿真模型暂停时,根据步骤四内容以及故障注入位置进行故障注入;
将系统运行结果与未故障注入系统运行结果对比,输出比较结果与故障信息。
9.如权利要求1所述的一种面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法,其特征在于:步骤六中,使用分层抽样策略进行统计实验,以电路模块个数作为分层数,以10倍模块故障注入点数作为层内样子数,针对电路各模块,基于仿真故障测试平台进行统计实验。
10.如权利要求1所述的一种面向SystemC电路模型的软错误敏感度分析方法,其特征在于:步骤七中,通过分析软件综合得到测试电路内部各模块的电路面积,从而得到各模块所占电路总面积的比例因子θi;根据大规模统计实现记录数据,得到引起仿真模型功能错误的故障注入数占模块总故障注入数的比值结合面积比例因子与故障比值,根据软错误敏感度计算公式得到模块的软错误敏感度。
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